| 講演名 | 2007-01-18 ダイナミック電源雑音波形を考慮したデジタル信号遅延変動解析(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般) 深澤 光弥, 永田 真, |
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| 抄録(和) | 本稿では,180-nm CMOSデジタル回路に100-ps/100-μVの分解能を持つ高精度オンチップ波形検出回路を適用し,ダイナミック電源雑音による遅延変動を測定した.また,雑音の主周波数成分から雑音波形を再現するシングルトーン雑音モデルを提案した.このモデルは論理ゲートにおける遷移信号波形の変動を効果的に捉えることができる.シミュレーションと実測では,雑音の大きさだけでなく,クロックドメイン間のクロック位相差による遅延変動への影響も良く一致している.提案したシュミレーション手法はダイナミック電源雑音を考慮した遅延解析を可能にし,従って,高速デジタル回路設計におけるタイミングクロージャの発展に寄与する. |
| 抄録(英) | Delay variability due to dynamic power supply noise is elucidated by on-chip signal waveform measurements at 100-ps/100-μV resolutions applied to a 180-nm CMOS digital circuit. A single-tone noise model represents a dynamic power supply noise waveform with the most significant frequency component and leads to circuit-level simulation that can efficiently capture the effects of switching signal waveform modulation on delay in a logic gate. Simulation and measurements show excellent agreement in delay variation, even with relative differences among clock domains in timing as well as in noise strength. The proposed delay simulation technique actualizes the delay analysis in consideration of dynamic power supply noise and thus consolidates the timing closure especially in a high speed digital design. |
| キーワード(和) | 遅延変動解析 / ダイナミック電源雑音 / シグナルインテグリティ / オンチップ波形検出技術 |
| キーワード(英) | Delay variation analysis / Dynamic Power supply noise / Signal integrity / On-chip wave form measurement |
| 資料番号 | CPM2006-133,ICD2006-175 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2007/1/11(から1日開催) |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ダイナミック電源雑音波形を考慮したデジタル信号遅延変動解析(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Delay Variation Analysis in Consideration of Dynamic Power Supply Noise Waveform |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遅延変動解析 / Delay variation analysis |
| キーワード(2)（和/英） | ダイナミック電源雑音 / Dynamic Power supply noise |
| キーワード(3)（和/英） | シグナルインテグリティ / Signal integrity |
| キーワード(4)（和/英） | オンチップ波形検出技術 / On-chip wave form measurement |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 深澤 光弥 / Mitsuya FUKAZAWA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 神戸大学工学部情報知能工学科 Department of Computer and Systems Engineering, Kobe University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 永田 真 / Makoto NAGATA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 神戸大学工学部情報知能工学科 Department of Computer and Systems Engineering, Kobe University |
| 発表年月日 | 2007-01-18 |
| 資料番号 | CPM2006-133,ICD2006-175 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | 468 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |