講演名 2006/12/1
サブテラヘルツ波検出を目指したダイオード構造の作製と特性評価(ミリ波・テラヘルツ波デバイス・システム)
高橋 寛, 井上 達也, 前元 利彦, 佐々 誠彦, 井上 正崇,
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抄録(和) サブテラヘルツ波検出を目指したSb系ヘテロ構造ダイオードの作製と特性評価を行った.このデバイスはMBE法によるInAs/AlSb/AlxGa_<1-x>Sb/GaSbヘテロ構造から成っている.パラメータとしてAl_xGa_<1-x>SbのAl組成xとAlSb膜厚yを変化させI-V特性を測定し,I-V特性から検出感度γを計算した.その結果、x=0.15,y=1nmのものが最も高いγ=4.4V^<-1>が得られ,同じAl組成でy=2nmのものより2倍良い.また、Al組成が高くなると負性抵抗が現れる電圧値が低電圧側ヘシフトすることが分かり,さらにAl組成を高めることで特性改善が期待される。
抄録(英) We fabricated and characterized Sb-based diodes for detecting subterahertz waves. These devices were made on InAs/AlSb/Al_xGa_<1-x>Sb/GaSb heterostructures grown by molecular beam epitaxy. We grew several structures by changing the Al composition, x, of Al_xGa_<1-x>Sb and the thickness, y, of the AlSb and characterized the I-V characteristics. The sensitivity, γ, of the diodes was estimated from the I-V characteristics. As a result, the maximum value of 4.4 V^<-1> was obtained in the device for x=0.15 and y=1nm, which was two times as good as that of y=2nm. In addition, the negative resistance appeared in the forward bias shifted towards low voltage side as the x value increased resulting in better rectification characteristics.
キーワード(和) サブテラヘルツ / テラヘルツ / ダイオード / Sb系ヘテロ構造 / 負性抵抗
キーワード(英) subteraherz / terahertz / diode / Sb-based / negative resistance
資料番号 ED2006-187
発行日

研究会情報
研究会 ED
開催期間 2006/12/1(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electron Devices (ED)
本文の言語 JPN
タイトル(和) サブテラヘルツ波検出を目指したダイオード構造の作製と特性評価(ミリ波・テラヘルツ波デバイス・システム)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Fabrication and characterization of Sb-based diode structures for detecting subterahertz waves
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) サブテラヘルツ / subteraherz
キーワード(2)(和/英) テラヘルツ / terahertz
キーワード(3)(和/英) ダイオード / diode
キーワード(4)(和/英) Sb系ヘテロ構造 / Sb-based
キーワード(5)(和/英) 負性抵抗 / negative resistance
第 1 著者 氏名(和/英) 高橋 寛 / Hiroshi TAKAHASHI
第 1 著者 所属(和/英) 大阪工業大学
Osaka Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 井上 達也 / Tatsuya INOUE
第 2 著者 所属(和/英) 大阪工業大学
Osaka Institute of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 前元 利彦 / Toshihiko MAEMOTO
第 3 著者 所属(和/英) 大阪工業大学
Osaka Institute of Technology
第 4 著者 氏名(和/英) 佐々 誠彦 / Shigehiko SASA
第 4 著者 所属(和/英) 大阪工業大学
Osaka Institute of Technology
第 5 著者 氏名(和/英) 井上 正崇 / Masataka INOUE
第 5 著者 所属(和/英) 大阪工業大学
Osaka Institute of Technology
発表年月日 2006/12/1
資料番号 ED2006-187
巻番号(vol) vol.106
号番号(no) 403
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日