講演名 2006-11-30
On Chip ProbeによるLSIの信号伝播波形の測定(物理設計,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
川越 伸一, 橘 昌良,
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抄録(和) デジタル回路における配線遅延は、デザインルールが微細化に伴い、Lの影響を考慮しなければならない状況が生じている。このため、配線遅延を近似するためには従来用いられてきたのとは異なる手法が求められている。本報告では、信号伝搬の波形を直接測定することにより、近似の基盤となるデータを得ることを目的として、チップ上にFETプローブを作成し、数々の配線について、リングオシレータの出力を測定した結果について発表する。
抄録(英) The effects of parasitic inductance of transmission line are becoming important factor in approximating signal delay in digital circuit due to the miniaturization of a design rule. Therefore more efficient methods are to be needed than before. This paper presents a test methodology to approximate the transmission delay, which contains FET probe on chip with several kinds of strip lines aimed at gaining the basic data of transmission delay.
キーワード(和) 伝播遅延 / FETプローブ / ストリップライン
キーワード(英) transmission delay / FET probe / strip line
資料番号 VLD2006-78,DC2006-65
発行日

研究会情報
研究会 VLD
開催期間 2006/11/23(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 VLSI Design Technologies (VLD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) On Chip ProbeによるLSIの信号伝播波形の測定(物理設計,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Waveform measurement of LSI by using on-chip-probe
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 伝播遅延 / transmission delay
キーワード(2)(和/英) FETプローブ / FET probe
キーワード(3)(和/英) ストリップライン / strip line
第 1 著者 氏名(和/英) 川越 伸一 / Shinichi KAWAGOE
第 1 著者 所属(和/英) 高知工科大学大学院工学研究科電子・光システム工学コース
Electronic and Photonic Systems Engineering Course, Kochi University of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 橘 昌良 / Masayoshi TACHIBANA
第 2 著者 所属(和/英) 高知工科大学大学院工学研究科電子・光システム工学コース
Electronic and Photonic Systems Engineering Course, Kochi University of Technology
発表年月日 2006-11-30
資料番号 VLD2006-78,DC2006-65
巻番号(vol) vol.106
号番号(no) 389
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日