| 講演名 | 2006-11-28 ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会) 谷口 謙二郎, 宮瀬 紘平, 梶原 誠司, 温 暁青, |
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| 抄録(和) | DSM技術の進歩により,遅延故障テストの重要性が増している.遅延故障の検出をより確実にするには,各故障を複数回検出するN回検出テストパターンが有効である.しかしN回検出用テストパターンで行う遷移遅延テストは,テストパターン数が増加するため,テストコストの増加が問題となる.その解決策として,テストパターン中にドントケアを判定し,チスト圧縮に利用することが,有効である.本論文では,ブロードサイドテストを前提とした遷移遅延故障用N回検出テストパターンのドントケア判定を行う手法を提案する.ベンチマーク回路に対する実験結果では,提案手法がテスト集合中に効果的にドントケアを判定できることを示す. |
| 抄録(英) | Developing DSM technologies, delay testing is getting more and more important. Generating N-detection test patterns for transitional delay faults can enhance the defect coverage. But the delay testing with an N-detection test set has a problem about test cost. A solution to the test cost problem is to identify Xs in the N-detection test set and to use the Xs for test compaction/compression. In this paper, we propose a method of test relaxation in an N-detection test set for transition delay faults using the broadside testing. Experimental results for benchmark circuits show that the proposed method can identify don't care bits in a given test set effectively. |
| キーワード(和) | ドントケア判定 / 遷移遅延故障 / ブロードサイドテスト / N回検出 |
| キーワード(英) | Don't care identification / Transitional fault / Broad-side testing / N-detection test |
| 資料番号 | VLD2006-57,DC2006-44 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2006/11/21(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Test relaxation for N-detection test patterns in broad-side delay testing |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ドントケア判定 / Don't care identification |
| キーワード(2)（和/英） | 遷移遅延故障 / Transitional fault |
| キーワード(3)（和/英） | ブロードサイドテスト / Broad-side testing |
| キーワード(4)（和/英） | N回検出 / N-detection test |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 谷口 謙二郎 / Kenjiro Taniguchi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学 Department of Computer Science and Electronics, Kyushu Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 科学技術振興機構 研究成果活用プラザ福岡 Innovation Plaza, Fukuoka, Japan Science and Technology Agency |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学 Department of Computer Science and Electronics, Kyushu Institute of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州工業大学 Department of Computer Science and Electronics, Kyushu Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2006-11-28 |
| 資料番号 | VLD2006-57,DC2006-44 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | 387 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |