講演名 2006-10-11
交換モンテカルロ法における交換率とカルバック距離の関係について(ベイズ情報処理,ベイズ情報処理及び一般)
永田 賢二, 渡辺 澄夫,
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抄録(和) 交換モンテカルロ法は、MCMC法の改良アルゴリズムとして特異モデルのベイズ学習など様々な分野でその有効性が示されている。交換モンテカルロ法の実装において、異なる確率分布間での交換率およびその平均を定める際に温度パラメータの設定が重要となる。その基準として、異なる温度間での対称カルバック距離を用いる手法が提案されているが、交換率とカルバック距離との関係は明らかにされていなかった。本研究では、任意の確率分布の低温極限における平均交換率と対称カルバック距離の漸近形を解析的に導出することで両者の関係を明らかにする。
抄録(英) The exchange Monte Carlo method was proposed as an improved algorithm of Markov Chain Monte Carlo method, and its effectiveness has been shown in many fields. In the exchange Monte Carlo method, the setting of temperatures is important to make the algorithm efficient because this setting controls the exchange ratio, with which the position exchange between two sequences is accepted. The symmetrized Kullback divergence between two distributions with different temperatures is used as the criterion for setting of temperature. However, the mathmatical relation between the symmetrized Kullback divergence and the exchange ratio is not clarified. In this paper, we analytically calculate the asymptotic form of the symmetirized Kullback divergence and the exchange ratio for the arbitrary distribution, and clarify the relation between the symmetrized Kullback divergence and the exchange ratio.
キーワード(和) 交換モンテカルロ法 / カルバック距離 / 交換率
キーワード(英) Exchange Monte Carlo Method / Kullback Divergence / Exchange Ratio
資料番号 NC2006-52
発行日

研究会情報
研究会 NC
開催期間 2006/10/4(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Neurocomputing (NC)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 交換モンテカルロ法における交換率とカルバック距離の関係について(ベイズ情報処理,ベイズ情報処理及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) On Relation between Exchange Ratio and Kullback Divergence in Exchange Monte Carlo Method
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 交換モンテカルロ法 / Exchange Monte Carlo Method
キーワード(2)(和/英) カルバック距離 / Kullback Divergence
キーワード(3)(和/英) 交換率 / Exchange Ratio
第 1 著者 氏名(和/英) 永田 賢二 / Kenji NAGATA
第 1 著者 所属(和/英) 東京工業大学 総合理工学研究科 知能システム科学専攻
Department of Computer Science Tokyo Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 渡辺 澄夫 / Sumio WATANABE
第 2 著者 所属(和/英) 東京工業大学 精密工学研究所
PI Lab., Tokyo Institute of Technology
発表年月日 2006-10-11
資料番号 NC2006-52
巻番号(vol) vol.106
号番号(no) 279
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日