講演名 2006-10-27
終端を開放したフランジ付矩形導波管による固体材料の複素比誘電率測定法の基礎検討(サブミリ波技術/マイクロ波電力応用/一般)
柴田 幸司, 秋田 雅也, 橋本 修,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) 本研究では,終端を開放したフランジ付矩形導波管に高損失誘電材料を配置することによる複素比誘電率の測定法の実現性を確認する為,基本モードのみを考慮したSDAにより数値解析的に入力インピーダンスを算出した.そして,FDTD法による計算結果との比較により,材料定数の測定時における高次モードを考慮しないことに起因する誤差について検討を行った.さらに,フランジと試料との間への整合板の挿入による反射係数の低減効果についても検討を行った.
抄録(英) This research is focused on the measurement of the complex permittivity of a solid phantom by the reflection method using a flanged waveguide without a Short-termination for measuring high-permittivity and high-loss materials. First, the reflection constant was calculated by the SDA under various lengths of sample materials for comparison of the calculated result by the FDTD. Secondly, the errors due to the exclusion of the higher modes are analyzed. As a result, the error becomes about 45% in the imaginary part. In the case of the real part, the error due to the exclusion of the higher modes becomes with in 7%. The discussions lead to the conclusion that the simplified measurement of the solid material with high-permittivity and high-loss is possible by the presented method.
キーワード(和) フランジ付導波管 / FDTD法 / スペクトル領域法 / 材料定数
キーワード(英) Flanged Waveguide / FDTD / SDA / Material Constant
資料番号 EMCJ2006-71,MW2006-127
発行日

研究会情報
研究会 EMCJ
開催期間 2006/10/19(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electromagnetic Compatibility (EMCJ)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 終端を開放したフランジ付矩形導波管による固体材料の複素比誘電率測定法の基礎検討(サブミリ波技術/マイクロ波電力応用/一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Fundamental Study on Measurement of Complex Permittivity Using Flanged Waveguide without Short-Termination
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) フランジ付導波管 / Flanged Waveguide
キーワード(2)(和/英) FDTD法 / FDTD
キーワード(3)(和/英) スペクトル領域法 / SDA
キーワード(4)(和/英) 材料定数 / Material Constant
第 1 著者 氏名(和/英) 柴田 幸司 / Kouji Shibata
第 1 著者 所属(和/英) 八戸工業大学工学部電子知能システム学科
Department of Electric Intelligence and Systems, Hachinohe Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 秋田 雅也 / Masaya Akita
第 2 著者 所属(和/英) 八戸工業大学工学部電子知能システム学科
Department of Electric Intelligence and Systems, Hachinohe Institute of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 橋本 修 / Osamu Hashimoto
第 3 著者 所属(和/英) 青山学院大学理工学部電気電子工学科
College of Science and Engineering, Aoyama Gakuin University
発表年月日 2006-10-27
資料番号 EMCJ2006-71,MW2006-127
巻番号(vol) vol.106
号番号(no) 322
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日