講演名 2006-09-25
CMOSイメージセンサの感度特性と評価(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
金 允〓, 池田 誠, 浅田 邦博,
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抄録(和) CMOS技術は微細化しつつある。それに従い、CMOSイメージセンサの感度特性も低下していく。高感度イメージセンサは、各プロセスにおける感度特性のスケーリングはCMOSイメージセンサの設計に重要である。本稿では、CMOS 0.35μm、0.6μmプロセスによるイメージセンサの感度特性を測定した結果を報告する。また、微細化の進んだプロセスの感度特性をスケーリングし、評価した。
抄録(英) CMOS technologies are improved in deep sub-micron technologies. CMOS based imagers in advanced processes have low sensitivity characteristics. It is important to scale the trend of sensitivity characterisitcs for a high sensitivity imager. In this paper, we show the sensitivity characteristics of CMOS based imagers fabricated by 0.35μm, 0.6μm technologies, and we show the trends of sensitivity in advanced processes.
キーワード(和) CMOSイメージセンサ / 分光感度 / 量子効率
キーワード(英) CMOS image sensor / spectral sensitivity / quantum efficiency
資料番号 VLD2006-34,SDM2006-155
発行日

研究会情報
研究会 VLD
開催期間 2006/9/18(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 VLSI Design Technologies (VLD)
本文の言語 ENG
タイトル(和) CMOSイメージセンサの感度特性と評価(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Sensitivity of CMOS Image Sensor and Scaling
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) CMOSイメージセンサ / CMOS image sensor
キーワード(2)(和/英) 分光感度 / spectral sensitivity
キーワード(3)(和/英) 量子効率 / quantum efficiency
第 1 著者 氏名(和/英) 金 允〓 / YunKyung KIM
第 1 著者 所属(和/英) 東京大学 大学院 工学系研究科
Dept. of Electronic Engineering, University of Tokyo
第 2 著者 氏名(和/英) 池田 誠 / Makoto IKEDA
第 2 著者 所属(和/英) 東京大学 大学院 工学系研究科:東京大学 大規模集積システム設計教育研究センター
Dept. of Electronic Engineering, University of Tokyo:VLSI Design and Education Center, University of Tokyo
第 3 著者 氏名(和/英) 浅田 邦博 / Kunihiro ASADA
第 3 著者 所属(和/英) 東京大学 大学院 工学系研究科:東京大学 大規模集積システム設計教育研究センター
Dept. of Electronic Engineering, University of Tokyo:VLSI Design and Education Center, University of Tokyo
発表年月日 2006-09-25
資料番号 VLD2006-34,SDM2006-155
巻番号(vol) vol.106
号番号(no) 254
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日