| 講演名 | 2006-08-25 MgOドーププロトン交換LN光導波路の光損傷における温度及び電界特性の検討(次世代伝送用ファイバ,機能性光ファイバ,フォトニック結晶ファイバ,ファイバ非線形現象,一般) 池田 明, 大塚 由紀子, 藤井 陽一, |
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| 抄録(和) | 電気光学デバイスの性能は、導波路の特性に依存する。各々のデバイスに適する導波路を選択するためには、導波路の材料・作製過程の違いによる導波層の光学的・物理的特性の違いについて詳細な研究が必要である。ニオブ酸リチウム(LN)結晶を用いた導波路デバイスは光情報処理分野への応用が期待できるが、その際、レーザ光を入射する時の光損傷(フォトリフラクティブ効果)によるLN結晶の屈折率変化が問題となる。本研究では、短波長光源(Ar-ionレーザ)を用いて、光損傷特性の実験的研究を行った。この温度依存性による比較を行い、またプロトン交換導波路を電気光学デバイスに応用する際に問題となる電界依存性による比較を行い、この特性の実用的問題について検討した。 |
| 抄録(英) | There has been a great demand for the electrooptic devices for both the optical communication and sensor applications, and the nonlinear-optical devices. The properties of these devices are highly dependent on the waveguide fabrication process. In order to find the waveguide fabrication techniques and the optimum fabrication conditions suitable for each devices, the exact estimation of the optical and physical properties of the waveguides becomes necessary. The proton-exchanged waveguide formed on MgO-doped lithium niobate (LN) crystals is expected to be resistant to optical damage (photorefractive effect). So this crystal is the attractive material for optical information and processing applications. In this report, the temperature and electric field dependences of the photorefractive effect are investigated. |
| キーワード(和) | 光導波路 / ニオブ酸リチウム / 光損傷効果 / プロトン交換 / 光損傷感度 |
| キーワード(英) | optical waveguides / lithium niobate / photorefractive effect / proton-exchange / photorefractive sensitivity |
| 資料番号 | OFT2006-28 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OFT |
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| 開催期間 | 2006/8/17(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Optical Fiber Technology (OFT) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | MgOドーププロトン交換LN光導波路の光損傷における温度及び電界特性の検討(次世代伝送用ファイバ,機能性光ファイバ,フォトニック結晶ファイバ,ファイバ非線形現象,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Temperature and Electric Field Dependences of Optical Damage in Proton-Exchanged Waveguides Formed on MgO-Doped Lithium Niobate Crystals |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 光導波路 / optical waveguides |
| キーワード(2)（和/英） | ニオブ酸リチウム / lithium niobate |
| キーワード(3)（和/英） | 光損傷効果 / photorefractive effect |
| キーワード(4)（和/英） | プロトン交換 / proton-exchange |
| キーワード(5)（和/英） | 光損傷感度 / photorefractive sensitivity |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 池田 明 / Akira Ikeda |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学理工学部電子情報工学科 Department of Electronics and Computer Science, College of Science and Technology, Nihon University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 大塚 由紀子 / Yukiko Otsuka |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京大学生産技術研究所 Institute of Industial Science, University of Tokyo |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 藤井 陽一 / Yoichi Fujii |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本大学理工学部電子情報工学科 Department of Electronics and Computer Science, College of Science and Technology, Nihon University |
| 発表年月日 | 2006-08-25 |
| 資料番号 | OFT2006-28 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | 211 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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