講演名 2006/6/26
RF MEMS Switch using the Pull-up Structure for High Long-term Reliability and Low Actuation Voltage(Session 8B Emerging Devices and Technologies II)
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抄録(和)
抄録(英) In this paper, we developed the RF MEMS switch using the pull-up structure for high long-term reliability and low actuation voltage. To achieve the high long-term reliability and low actuation voltage, the RF MEMS switch adopted the pull-up structure using the movable contact pad, instead of cantilevers or fixed-fixed beams, because the movable contact pad was not deformed by electrostatic force. Reliable operations were demonstrated at a very low actuation voltage of 4.5V. After 23 billion cyclic actuations, the reliable actuation voltages smaller than 5V are obtained, while insertion loss and isolation are maintained below 0.51 and 55.0dB, respectively, at 50 GHz.
キーワード(和)
キーワード(英) MEMS switch / pull-up structure / movable contact pad / low actuation voltage / high long-term reliability
資料番号 ED2006-105,SDM2006-113
発行日

研究会情報
研究会 SDM
開催期間 2006/6/26(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Silicon Device and Materials (SDM)
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) RF MEMS Switch using the Pull-up Structure for High Long-term Reliability and Low Actuation Voltage(Session 8B Emerging Devices and Technologies II)
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) / MEMS switch
第 1 著者 氏名(和/英) / Seong-Dae Lee
第 1 著者 所属(和/英)
Millimeter-wave Innovation Technology Research Center (MINT), Dongguk University
発表年月日 2006/6/26
資料番号 ED2006-105,SDM2006-113
巻番号(vol) vol.106
号番号(no) 138
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日