| 講演名 | 2006-07-27 多重内部反射型赤外吸収分光法を用いた有機デバイスの評価(有機材料,一般) 山本 学志, 小川 賢, 木村 康男, 石井 久夫, 庭野 道夫, |
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| 抄録(和) | 有機電界効果トランジスタにおける酸素と光の効果を、多重内部反射型赤外吸収分光法および変位電流評価法を用いて評価した。赤外吸収分光法は有機半導体中の化学状態のin situ測定に適している。これらの手法を用いて、低分子のペンタセンおよび高分子のP3HTのドーピング現象を直接的に観測し、ドーピングによるキャリア生成機構とデバイス特性への影響を調べた。 |
| 抄録(英) | We report that we characterized the doping effect of oxygen and light irradiation on organic field effect transistors (OFETs) using infrared absorption spectroscopy in the multiple internal reflection geometry (MIR-IRAS) and displacement current measurement (DCM). MIR-IRAS is capable of in situ characterization of the chemical state of organic device materials. We immediately observed the doping phenomenon in pentacene and poly (3-hexylthiophen)(P3HT) FET using these methods and investigated the carrier generation mechanism by the doping phenomenon and its influence on device characteristics. |
| キーワード(和) | 電界効果トランジスタ / 変位電流評価法 / 有機FET / キャリア注入 |
| キーワード(英) | Field Effect Transistor / Displacement Current / OFETs / carrier injection |
| 資料番号 | OME2006-58 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME |
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| 開催期間 | 2006/7/20(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Organic Material Electronics (OME) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 多重内部反射型赤外吸収分光法を用いた有機デバイスの評価(有機材料,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of organic devices using infrared absorption spectroscopy in the multiple internal reflection geometry |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電界効果トランジスタ / Field Effect Transistor |
| キーワード(2)（和/英） | 変位電流評価法 / Displacement Current |
| キーワード(3)（和/英） | 有機FET / OFETs |
| キーワード(4)（和/英） | キャリア注入 / carrier injection |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 山本 学志 / Gakuji YAMAMOTO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東北大学電気通信研究所 ナノスピン実験施設 Tohoku university Research Institute of Electrical Communication(RIEC) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 小川 賢 / Satoshi OGAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東北大学電気通信研究所 ナノスピン実験施設 Tohoku university Research Institute of Electrical Communication(RIEC) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 木村 康男 / Yasuo KIMURA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東北大学電気通信研究所 ナノスピン実験施設:戦略的基礎研究推進事業(CREST) Tohoku university Research Institute of Electrical Communication(RIEC):Core Research for Evolutional Science and Technology(CREST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 石井 久夫 / Hisao ISHII |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 千葉大学先進 CFS Chiba university |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 庭野 道夫 / Michio NIWANO |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 東北大学電気通信研究所 ナノスピン実験施設:戦略的基礎研究推進事業(CREST) Tohoku university Research Institute of Electrical Communication(RIEC):Core Research for Evolutional Science and Technology(CREST) |
| 発表年月日 | 2006-07-27 |
| 資料番号 | OME2006-58 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | 183 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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