講演名 2006-07-06
SQUIDピコボルトメータと冷却銅コイルを用いた非破壊検査システム(SQUID,一般)
山崎 大輔, 田雑 和也, 円福 敬二,
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抄録(和) SQUIDピコボルトメータと冷却銅コイルを用いた地磁気中で走査可能な非破壊検査装置を開発し、銅板の裏面につけた微小傷の検出を行った。最初に、コイルを走査した時のリフトオフの変化による信号のドリフトを軽減する方法を調べ、表面磁界と90度位相の異なる信号成分を計測すれば、ドリフトの影響を大幅に軽減できることを示した。次に、検出コイルを走査することにより傷からの磁界の2次元マップを作成し、傷の位置と形状を推定した。最後に、検出信号の励起周波数依存性や銅板の厚さ依存性を明らかにし、この依存性を用いて表面からの傷の深さを推定する方法を調べた。検出信号が最大になる最適周波数が銅板の厚さとともに変化することを示し、この特性を利用すれば傷深さの推定が可能であることを示した。さらに、欠陥からの信号磁界の絶対値と位相を求めるための解析手法を示し、この解析結果と実験結果が良く一致することを示した。
抄録(英) Nondestructive evaluation (NDE) system utilizing a cooled normal pickup coil and a high-T_c superconducting quantum interference device (SQUID) picovoltmeter was performed both experimentally and analytically. In the experiment, we successfully detected a small crack on the back surface of a Cu plate by moving the coil in an unshielded environment. First, we developed a method of avoiding the drift of the detected signal that was caused by the variance of lift-off. Next, two dimensional mapping of the magnetic field from the crack was obtained, from which position and size of the crack were estimated. Finally, we clarified the dependences of the detected signal on the excitation frequency and the thickness of the Cu plate. It was shown that an optimum frequency that maximizes the detected signal exists. Because this frequency changed with the thickness of the Cu plate, the frequency dependence could be used to estimate the depth of the crack from the surface of the Cu plate. The experimental results were analyzed taking into account the phase and amplitude of the signal field caused by the crack. Good agreement was obtained between experiment and analysis.
キーワード(和) SQUIDピコボルトメータ / 冷却コイル / 非破壊検査 / 傷深さの推定
キーワード(英) SQUID picovoltmeter / cooled pickup coil / NDE / crack depth
資料番号 SCE2006-20
発行日

研究会情報
研究会 SCE
開催期間 2006/6/29(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Superconductive Electronics (SCE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) SQUIDピコボルトメータと冷却銅コイルを用いた非破壊検査システム(SQUID,一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) NDE System Utilizing SQUID Picovoltmeter and Cooled Normal Pickup Coil
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) SQUIDピコボルトメータ / SQUID picovoltmeter
キーワード(2)(和/英) 冷却コイル / cooled pickup coil
キーワード(3)(和/英) 非破壊検査 / NDE
キーワード(4)(和/英) 傷深さの推定 / crack depth
第 1 著者 氏名(和/英) 山崎 大輔 / Daisuke YAMASAKI
第 1 著者 所属(和/英) 九州大学システム情報科学研究院
Graduate School of Information Science and Electrical Engineering, Kyushu University
第 2 著者 氏名(和/英) 田雑 和也 / Kazuya TAZHO
第 2 著者 所属(和/英) 九州大学システム情報科学研究院
Graduate School of Information Science and Electrical Engineering, Kyushu University
第 3 著者 氏名(和/英) 円福 敬二 / Keiji ENPUKU
第 3 著者 所属(和/英) 九州大学システム情報科学研究院
Graduate School of Information Science and Electrical Engineering, Kyushu University
発表年月日 2006-07-06
資料番号 SCE2006-20
巻番号(vol) vol.106
号番号(no) 139
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日