| 講演名 | 2006-05-26 離散ワイブル型故障発生時間分布に基づいたソフトウェア信頼性モデル(ソフトウェアの信頼性,信頼性理論,信頼性一般) 井上 真二, 山田 茂, |
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| 抄録(和) | ソフトウェア信頼度成長モデル(SRGM)の一般化枠組みは,これまでに提案されているSRGMを理論的かつ統一的に取り扱うための枠組みとして知られている.近年では,既存の一般化枠組みに基づいて,これまでに提案されているSRGMも包括的に記述することができるような一般化SRGMに関する議論も少なくない.本研究では,特に,実行されたテストケース数などの離散時間に依存したソフトウェア信頼度成長過程を記述するためのモデルである離散型SRGMに着目して,一般化離散型SRGMの構築を行う.また,発見的解法による提案モデルのパラメータ推定手法について議論すると共に,実測データを用いた提案モデルの適用例を示す.本研究で新たに構築する離散型SRGMは,離散型ワイブル分布を用いてソフトウェア故障発生パターンを柔軟に記述するため,これまでに議論されているソフトウェア信頼度成長過程の典型的なパターンを比較的柔軟に記述できるモデルであると考えることができる. |
| 抄録(英) | Unified modeling frameworks for software reliability growth models (SRGM's) are known as the frameworks for treating existing SRGM's theoretically and generally. And, the unified modeling frameworks can be also regarded as modeling frameworks which enable us to develop plausible SRGM's reflecting the software failure-occurrence phenomenon in the testing-phase explicitly. Recently, generalized SRGM's which can describe several existing SRGM's comprehensively have been proposed by using the unified modeling frameworks. In this paper, focusing on software reliability growth process depending on discrete-time domain, such as the number of executed test cases, we propose a generalized discrete SRGM assuming that the software failure-occurrence times distribution follows a discrete Weibull distribution. And we discuss parameter estimation of our generalized discrete SRGM, which is based on a heuristic algorithm. Finally, we show numerical examples of our generalized discrete SRGM by using actual fault counting-data. |
| キーワード(和) | ソフトウェア信頼度成長モデル / 離散時間モデル / プログラム規模 / 二項過程 / 離散型ワイブル分布 / ソフトウェア信頼性解析 |
| キーワード(英) | Software reliability growth model / discrete-time model / program size / binomial process / discrete Weibull distribution / software reliability analysis |
| 資料番号 | R2006-8 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
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| 開催期間 | 2006/5/19(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Reliability(R) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 離散ワイブル型故障発生時間分布に基づいたソフトウェア信頼性モデル(ソフトウェアの信頼性,信頼性理論,信頼性一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Software Reliability Modeling Based on A Discrete Weibull-Type Failure-Occurrence Times Distribution |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトウェア信頼度成長モデル / Software reliability growth model |
| キーワード(2)（和/英） | 離散時間モデル / discrete-time model |
| キーワード(3)（和/英） | プログラム規模 / program size |
| キーワード(4)（和/英） | 二項過程 / binomial process |
| キーワード(5)（和/英） | 離散型ワイブル分布 / discrete Weibull distribution |
| キーワード(6)（和/英） | ソフトウェア信頼性解析 / software reliability analysis |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 井上 真二 / Shinji INOUE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 鳥取大学工学部 Faculty of Engineering, Tottori University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 山田 茂 / Shigeru YAMADA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 鳥取大学工学部 Faculty of Engineering, Tottori University |
| 発表年月日 | 2006-05-26 |
| 資料番号 | R2006-8 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | 76 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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