| 講演名 | 2006-05-26 >4GHz ATEアプリケーションの為の1.83ps分解能CMOS任意タイミング発生器(VLSI一般(ISSCC2006特集)) 岡安 俊幸, 須田 昌克, 山本 和弘, 寒竹 秀介, 須藤 訓, 渡邊 大輔, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | テストレート4GHz以上の半導体試験装置(ATE)向けに開発した高速高精度のCMOSダイナミック任意タイミング発生器(TG)について紹介する.開発したTGの最大動作周波数は1.066GHzであり,マルチプレクス動作時には4.266GHzのテストレートに対応可能である.時間分解能は1.83psで, INLは±4ps以下である.さらに,従来用いられていたリニアリティ校正用のRAMを不要とした.ランダムジッタは0.7ps rmsを達成した.試作チップにはメタル7層の0.18μmのCMOSプロセスを使用した. |
| 抄録(英) | A high-speed, precise fully CMOS dynamic arbitrary timing generator for >4GHz automatic test equipment (ATE) applications is demonstrated. Maximum operating frequency of 1.066GHz and 4.266GHz (when multiplexed), timing resolution of 1.83ps, INL less than +/-4ps without calibration RAM, random jitter less than 0.7ps rms are achieved. This chip was fabricated in a 0.18μm CMOS, Al 7-layer metal process. |
| キーワード(和) | CMOS / 半導体試験装置 / タイミング発生器 / ジッタ |
| キーワード(英) | CMOS / Automatic Test Equipment (ATE) / Timing Generator / Jitter |
| 資料番号 | ICD2006-36 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
|---|---|
| 開催期間 | 2006/5/18(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | >4GHz ATEアプリケーションの為の1.83ps分解能CMOS任意タイミング発生器(VLSI一般(ISSCC2006特集)) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | 1.83ps-Resolution CMOS Dynamic Arbitrary Timing Generator for >4GHz ATE Applications |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | CMOS / CMOS |
| キーワード(2)（和/英） | 半導体試験装置 / Automatic Test Equipment (ATE) |
| キーワード(3)（和/英） | タイミング発生器 / Timing Generator |
| キーワード(4)（和/英） | ジッタ / Jitter |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 岡安 俊幸 / Toshiyuki OKAYASU |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 株式会社アドバンテスト Advantest Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 須田 昌克 / Masakatsu SUDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 株式会社アドバンテスト Advantest Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山本 和弘 / Kazuhiro YAMAMOTO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 株式会社アドバンテスト Advantest Corporation |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 寒竹 秀介 / Shusuke KANTAKE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 株式会社アドバンテスト Advantest Corporation |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 須藤 訓 / Satoshi SUDOU |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 株式会社アドバンテスト Advantest Corporation |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 渡邊 大輔 / Daisuke WATANABE |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 株式会社アドバンテスト Advantest Corporation |
| 発表年月日 | 2006-05-26 |
| 資料番号 | ICD2006-36 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | 71 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |