講演名 | 2006-04-18 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出(その2)(プローブ関連,EMC対策/一般) 萱野 良樹, 丹 健二, 山川 清志, 駒木根 隆士, 井上 浩, |
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抄録(和) | 近年,プリント回路基板や集積回路等の電子機器の近傍磁界測定は,電磁干渉妨害(ElectroMagnetic Interference: EMI)の評価及び抑制法の確立のために必要不可欠になっている.本研究では,高空間分解能を有し,かつ高周波まで計測可能な磁界プローブの開発を目的として,磁気インピーダンス(Giant Magneto-Impedance: GMI)効果に基づいた高周波キャリア型磁界プローブの試作を行い,その有効性を従来のループ型プローブによる測定結果並びに計算結果との比較により検討した.その結果,GMIセンサチップを実装する基板によって磁界分布が乱され,null点の位置について計算結果と200μmの差異が生じたが,提案するGMIセンサは線路端への電流集中を明確に検出でき,そして1GHzまでの高周波磁界を検出可能であることが確認できた. |
抄録(英) | Recently, magnetic near field measurements of electronic devices are indispensable to establish techniques of evaluating and suppressing an electromagnetic interference. In this paper, a high frequency carrier type magnetic field probe, which has high sensitivity and high resolution, called GMI (giant magneto-impedance) probe, is proposed. And its validity of magnetic near field measurements is demonstrated by comparing with a conventional shielded loop coil probe and numerical modeling. The GMI probe can clearly detect current concentration at an edge of a microstrip line, which allows high resolution measurements. But, there is slight difference in the position of null points between measured and calculated results. |
キーワード(和) | 磁界プローブ / 高周波キャリア型 / 磁気インピーダンス効果 |
キーワード(英) | Magnetic Probe / High Frequency Carrier Type / Magnet-Impedance |
資料番号 | EMCJ2006-4 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | EMCJ |
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開催期間 | 2006/4/11(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Electromagnetic Compatibility (EMCJ) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出(その2)(プローブ関連,EMC対策/一般) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Detection of AC Magnetic Fields at Gigahertz Frequency by a High-Frequency-Carrier Type Magnetic Probe (2) |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 磁界プローブ / Magnetic Probe |
キーワード(2)(和/英) | 高周波キャリア型 / High Frequency Carrier Type |
キーワード(3)(和/英) | 磁気インピーダンス効果 / Magnet-Impedance |
第 1 著者 氏名(和/英) | 萱野 良樹 / Yoshiki KAYANO |
第 1 著者 所属(和/英) | 秋田大学工学資源学部電気電子工学科 Faculty of Engineering and Resource Science, Akita University |
第 2 著者 氏名(和/英) | 丹 健二 / Kenji TAN |
第 2 著者 所属(和/英) | 秋田県産業技術総合研究センター Akita Research Institute of Advanced Technology |
第 3 著者 氏名(和/英) | 山川 清志 / Kiyoshi YAMAKAWA |
第 3 著者 所属(和/英) | 秋田県産業技術総合研究センター Akita Research Institute of Advanced Technology |
第 4 著者 氏名(和/英) | 駒木根 隆士 / TAKASHI KOMAKINE |
第 4 著者 所属(和/英) | 秋田県産業技術総合研究センター Akita Research Institute of Advanced Technology |
第 5 著者 氏名(和/英) | 井上 浩 / Hiroshi INOUE |
第 5 著者 所属(和/英) | 秋田大学工学資源学部電気電子工学科 Faculty of Engineering and Resource Science, Akita University |
発表年月日 | 2006-04-18 |
資料番号 | EMCJ2006-4 |
巻番号(vol) | vol.106 |
号番号(no) | 10 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 5 |
発行日 |