講演名 2006-04-18
高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出(その2)(プローブ関連,EMC対策/一般)
萱野 良樹, 丹 健二, 山川 清志, 駒木根 隆士, 井上 浩,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) 近年,プリント回路基板や集積回路等の電子機器の近傍磁界測定は,電磁干渉妨害(ElectroMagnetic Interference: EMI)の評価及び抑制法の確立のために必要不可欠になっている.本研究では,高空間分解能を有し,かつ高周波まで計測可能な磁界プローブの開発を目的として,磁気インピーダンス(Giant Magneto-Impedance: GMI)効果に基づいた高周波キャリア型磁界プローブの試作を行い,その有効性を従来のループ型プローブによる測定結果並びに計算結果との比較により検討した.その結果,GMIセンサチップを実装する基板によって磁界分布が乱され,null点の位置について計算結果と200μmの差異が生じたが,提案するGMIセンサは線路端への電流集中を明確に検出でき,そして1GHzまでの高周波磁界を検出可能であることが確認できた.
抄録(英) Recently, magnetic near field measurements of electronic devices are indispensable to establish techniques of evaluating and suppressing an electromagnetic interference. In this paper, a high frequency carrier type magnetic field probe, which has high sensitivity and high resolution, called GMI (giant magneto-impedance) probe, is proposed. And its validity of magnetic near field measurements is demonstrated by comparing with a conventional shielded loop coil probe and numerical modeling. The GMI probe can clearly detect current concentration at an edge of a microstrip line, which allows high resolution measurements. But, there is slight difference in the position of null points between measured and calculated results.
キーワード(和) 磁界プローブ / 高周波キャリア型 / 磁気インピーダンス効果
キーワード(英) Magnetic Probe / High Frequency Carrier Type / Magnet-Impedance
資料番号 EMCJ2006-4
発行日

研究会情報
研究会 EMCJ
開催期間 2006/4/11(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electromagnetic Compatibility (EMCJ)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出(その2)(プローブ関連,EMC対策/一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Detection of AC Magnetic Fields at Gigahertz Frequency by a High-Frequency-Carrier Type Magnetic Probe (2)
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 磁界プローブ / Magnetic Probe
キーワード(2)(和/英) 高周波キャリア型 / High Frequency Carrier Type
キーワード(3)(和/英) 磁気インピーダンス効果 / Magnet-Impedance
第 1 著者 氏名(和/英) 萱野 良樹 / Yoshiki KAYANO
第 1 著者 所属(和/英) 秋田大学工学資源学部電気電子工学科
Faculty of Engineering and Resource Science, Akita University
第 2 著者 氏名(和/英) 丹 健二 / Kenji TAN
第 2 著者 所属(和/英) 秋田県産業技術総合研究センター
Akita Research Institute of Advanced Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 山川 清志 / Kiyoshi YAMAKAWA
第 3 著者 所属(和/英) 秋田県産業技術総合研究センター
Akita Research Institute of Advanced Technology
第 4 著者 氏名(和/英) 駒木根 隆士 / TAKASHI KOMAKINE
第 4 著者 所属(和/英) 秋田県産業技術総合研究センター
Akita Research Institute of Advanced Technology
第 5 著者 氏名(和/英) 井上 浩 / Hiroshi INOUE
第 5 著者 所属(和/英) 秋田大学工学資源学部電気電子工学科
Faculty of Engineering and Resource Science, Akita University
発表年月日 2006-04-18
資料番号 EMCJ2006-4
巻番号(vol) vol.106
号番号(no) 10
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日