講演名 2006/3/3
光切断法を応用した電極表面形状の評価システムに関する基礎検討(<特集>「ショートノート」(卒論・修論特集))
鎌田 裕介, 長谷川 誠,
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抄録(和) メカニカルリレー・スイッチの電極表面は、動作時のアーク放電や機械的磨耗による損傷を受ける。電極材料や負荷条件の相違に伴う損傷特性の検討に際して、従来は主として開閉動作試験終了後の電極表面状態の観察・評価が行われているが、開閉動作に伴う電極表面損傷形状(特にクレータ)の成長過程を動作中に経時的に観察・評価できれば、より詳細な比較検討が可能になる。そこでこのほど、上記の目的のために光切断法を用いた電極表面形状の数値的評価システムの構築に着手し、まず第1段階として、ステージ上に置かれたサンプル表面の形状評価システムを作成した。本論文では、その概要といくつかの測定例をご報告する。
抄録(英) Contact surfaces of mechanical relays and switches are often damaged by arc discharges and/or mechanical wear during switching operations. Conventionally, erosion and transfer characteristics of various contact materials under different load conditions have been mainly studied based on observation and evaluation of contact surfaces after switching operation tests. On the other hand, a further detailed study becomes possible if we can observe and numerically evaluate a growing process of surface damages (especially, growth of a crater) on contact surfaces during switching operations. For that purpose, we initiated construction of a numerical evaluation system of contact surface damages by way of an optical cross-section method, and as the first step, developed an evaluation system for surface profile of a sample placed on a stage. In this paper, outlines of the system, as well as some examples of measured data obtained thereby, are briefly explained.
キーワード(和) 電気接点 / アーク放電 / 消耗 / 転移 / 光切断法
キーワード(英) Electrical contacts / Arc discharge / Erosion / Transfer / Optical cross-section method
資料番号 EMD2005-125
発行日

研究会情報
研究会 EMD
開催期間 2006/3/3(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electromechanical Devices (EMD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 光切断法を応用した電極表面形状の評価システムに関する基礎検討(<特集>「ショートノート」(卒論・修論特集))
サブタイトル(和)
タイトル(英) A fundamental study on evaluation system for contact surfaces by employing an optical cross-section method
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / Electrical contacts
キーワード(2)(和/英) アーク放電 / Arc discharge
キーワード(3)(和/英) 消耗 / Erosion
キーワード(4)(和/英) 転移 / Transfer
キーワード(5)(和/英) 光切断法 / Optical cross-section method
第 1 著者 氏名(和/英) 鎌田 裕介 / Yusuke Kamada
第 1 著者 所属(和/英) 千歳科学技術大学 光科学部 光応用システム学科
Chitose Institute of Science & Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 長谷川 誠 / Makoto Hasegawa
第 2 著者 所属(和/英) 千歳科学技術大学 光科学部 光応用システム学科
Chitose Institute of Science & Technology
発表年月日 2006/3/3
資料番号 EMD2005-125
巻番号(vol) vol.105
号番号(no) 648
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日