| 講演名 | 2006/3/3 コンタクト開離時のアーク継続時間とガス相移行率に対する電源電圧の影響(<特集>「ショートノート」(卒論・修論特集)) 渡邉 裕之, 吉田 清, |
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| 抄録(和) | AgとAgCuおよびAgSnO_2コンタクトに対して、アーク継続時間ta、メタリック相継続時間tm、ガス相移行率Gについて実験を行い比較した。実験は、抵抗負荷のもとで電源電圧Eを12、24、30、36、48V、閉成時電流Ioを0.4～5Aの範囲で変化させ行った。その結果、Eはtaに大きく影響した。また、E=12V、24Vではどのコンタクトにおいてもガス相への移行が生じなかった。さらに、ガス相移行境界の閉成時電流は、AgSnO_2が3種類のコンタクトの中で最も小さいことが明らかになった。 |
| 抄録(英) | The arc duration ta, metallic phase duration tm, and transition ratio to gaseous phase G were experimentally studied in Ag, AgCu and AgSnO_2 breaking contacts. Experiments were carried out under the variation of source voltage E (12, 24, 30, 36, 48V), closed contact current Io (0.4-5A). As a result, the gaseous phase transition was not occurred in E=24V or less. In addition, gaseous phase transition boundary closed current (at which G=50%) of AgSnO_2 was smaller than that of Ag and AgCu contacts. |
| キーワード(和) | 電気接点 / アーク継続時間 / アーク放電 / 接点材料 / メタリック相アーク / ガス相アーク |
| キーワード(英) | Electrical contacts / Arc duration / Arc discharge / Contact material / Metallic phase arc / Gaseous phase arc |
| 資料番号 | EMD2005-115 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2006/3/3(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | コンタクト開離時のアーク継続時間とガス相移行率に対する電源電圧の影響(<特集>「ショートノート」(卒論・修論特集)) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Effect of Source Voltage on Arc Duration and Transition Ratio from Metallic to Gaseous Phase in Break Arc |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / Electrical contacts |
| キーワード(2)（和/英） | アーク継続時間 / Arc duration |
| キーワード(3)（和/英） | アーク放電 / Arc discharge |
| キーワード(4)（和/英） | 接点材料 / Contact material |
| キーワード(5)（和/英） | メタリック相アーク / Metallic phase arc |
| キーワード(6)（和/英） | ガス相アーク / Gaseous phase arc |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 渡邉 裕之 / Hiroyuki WATANABE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本工業大学 工学部 電気電子工学科 Faculty of Engineering, Nippon Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 吉田 清 / Kiyoshi YOSHIDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本工業大学 工学部 電気電子工学科 Faculty of Engineering, Nippon Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2006/3/3 |
| 資料番号 | EMD2005-115 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 648 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |