| 講演名 | 2006-03-17 ヒルベルト曲線による点照合ための新しい類似度計算法(一般セッション(5),CVのためのパターン認識・学習理論の新展開) 田 黎, 鎌田 清一郎, 恒吉 和幸, |
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| 抄録(和) | 本研究では、ヒルベルト曲線を利用した点照合ための新しい類似度計算法について述べる.これは、ヒルベルト曲線を利用して、二次元の点情報を一次元点情報に変換し、一次元上で高速に類似度を計算するものである.点照合ための従来手法と比較して、計算量が少なく、雑音の影響を受けにくいことを確認した. |
| 抄録(英) | In this report, we present a novel similarity measure using Hilbert curve for point pattern matching. In our method, the similarity measure is computed in one-dimensional (1-D) sequence in stead of in two-dimensional (2-D) space by using Hilbert curve. The experimental results show that our measure is fast and robust to noise than conventional similarity measures. |
| キーワード(和) | 点照合 / 類似度計算法 / ヒルベルト曲線 / ヒルベルト走査距離 |
| キーワード(英) | point pattern matching / similarity measure / Hilbert curve / Hilbert scanning distance |
| 資料番号 | PRMU2005-283 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | PRMU |
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| 開催期間 | 2006/3/10(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Pattern Recognition and Media Understanding (PRMU) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | ヒルベルト曲線による点照合ための新しい類似度計算法(一般セッション(5),CVのためのパターン認識・学習理論の新展開) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Novel Similartiy Measure for Point Matching using Hilbert Curve |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 点照合 / point pattern matching |
| キーワード(2)（和/英） | 類似度計算法 / similarity measure |
| キーワード(3)（和/英） | ヒルベルト曲線 / Hilbert curve |
| キーワード(4)（和/英） | ヒルベルト走査距離 / Hilbert scanning distance |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 田 黎 / Li TIAN |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 早稲田大学大学院情報生産システム研究科 Graduate School of Information, Production and Systems, Waseda University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 鎌田 清一郎 / Sei-ichiro KAMATA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 早稲田大学大学院情報生産システム研究科 Graduate School of Information, Production and Systems, Waseda University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 恒吉 和幸 / Kazuyuki TSUNEYOSHI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 財団法人北九州産学学術推進機構 Kitakyushu Foundation for the Advancement of Industry Science and Technology |
| 発表年月日 | 2006-03-17 |
| 資料番号 | PRMU2005-283 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 674 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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