| 講演名 | 2006-03-17 NIST乱数検定を用いた乱数性能の評価について(情報通信基礎サブソサイエティ合同研究会) 奥富 秀俊, 金田 学, 山口 健二, 中村 勝洋, |
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| 抄録(和) | 統計的な乱数性能の評価手段としてNIST乱数検定が広く使われている.本稿では,NIST乱数検定のPROPORTION(合格比率)評価における疑問点について触れ,より明確な評価を与えるためには,検定を多数回繰り返す必要があるとした上で,実測値が二項分布に適合しているか否かを見るといった評価法を検討し,該評価法を用いて今日の代表的な乱数生成法であるDESとSHA-1を利用した生成法の評価を実施した.その結果,該評価法の有用性を示せたので,今後の課題も含めて報告する. |
| 抄録(英) | NIST randomness test is widely used today as statistical evaluation method of the randomness. In this paper, at first, we describe some improper points in the evaluation of the success proportion in the NIST randomness test and next we propose more clear evaluation method in the PROPORTION. The method we propose is achieved repeating the NIST randomness test as many times and observing the degree of the matching between the measurement value's distribution and theoretical distribution (binominal distribution). Using this evaluation method, we show the evaluated results in the success proportion about the sequences generated by DES and SHA-1. Finally, we describe the usefulness of the proposed method using these results. |
| キーワード(和) | NIST SP.800-22 / 乱数検定 / PROPORTION(合格比率) / 二項分布 |
| キーワード(英) | NIST SP.800-22 / randomness test / proportion / binomial distribution |
| 資料番号 | IT2005-108,ISEC2005-165,WBS2005-122 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ISEC |
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| 開催期間 | 2006/3/10(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Information Security (ISEC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | NIST乱数検定を用いた乱数性能の評価について(情報通信基礎サブソサイエティ合同研究会) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On the Randomness Evaluation Method using NIST Randomness Test |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | NIST SP.800-22 / NIST SP.800-22 |
| キーワード(2)（和/英） | 乱数検定 / randomness test |
| キーワード(3)（和/英） | PROPORTION(合格比率) / proportion |
| キーワード(4)（和/英） | 二項分布 / binomial distribution |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 奥富 秀俊 / Hidetoshi OKUTOMI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東芝情報システム株式会社 技術企画部 Technology Planning & Coordinating Division, TOSHIBA INFORMATION SYSTEMS (JAPAN) CORPORATION |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 金田 学 / Manabu KANEDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東芝情報システム株式会社 技術企画部 Technology Planning & Coordinating Division, TOSHIBA INFORMATION SYSTEMS (JAPAN) CORPORATION |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山口 健二 / Kenji YAMAGUCHI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 千葉大学大学院自然科学研究科数学・情報数理学専攻 Mathematics and Informatics, Graduate School of Science and Technology, Chiba University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 中村 勝洋 / Katsuhiro NAKAMURA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 千葉大学理学部数学・情報数理学科 Dept. of Mathematics & Informatics, Faculty of Science, Chiba University |
| 発表年月日 | 2006-03-17 |
| 資料番号 | IT2005-108,ISEC2005-165,WBS2005-122 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 664 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |