| 講演名 | 2006/2/10 LFSRを用いたロジックBISTの故障検出率に関する統計的一考察(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般) 福本 聡, 黒川 晴申, 新井 雅之, 岩崎 一彦, |
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| 抄録(和) | テストパターン発生器では,パラメータ設定によって生成されるパターン系列が異なることは周知のとおりである.本研究では故障検出能力の観点から,より効果的なテストパターン系列を得るためのパラメータ探索オーバヘッドについて統計的に考察する.故障シミュレーションの終了条件として,テストパターン数を用いる場合と,故障検出率を用いる場合とをそれぞれ検討する.その結果,必要な探索オーバヘッドを見積もるときの予想精度の点で,前者の方が統計的に取り扱いが容易であることがなど示される. |
| 抄録(英) | This paper discusses the statistical evaluation for exploring the effective parameter values of a test pattern generator. Those parameter values affect the generation of test pattern sequences whose performances of fault detection differ from one by one. We consider two cases of handling terminal conditions of the fault simulation. One case is that the simulation is terminated by a given number of test patterns. And the other is that by given fault coverage. The results show that the formar case has the advantage of statistically accurate assessment for the exploring overhead, and so on. |
| キーワード(和) | LFSR / BIST / テストパターン系列 / 故障検出率 / 残存故障数 / 正規分布 |
| キーワード(英) | LFSR / BIST / test pattern sequence / fault coverage / residual faults / normal distribution |
| 資料番号 | DC2005-75 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2006/2/10(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | LFSRを用いたロジックBISTの故障検出率に関する統計的一考察(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Statistical Study on Fault Coverage of the Logic BIST with LFSR |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | LFSR / LFSR |
| キーワード(2)（和/英） | BIST / BIST |
| キーワード(3)（和/英） | テストパターン系列 / test pattern sequence |
| キーワード(4)（和/英） | 故障検出率 / fault coverage |
| キーワード(5)（和/英） | 残存故障数 / residual faults |
| キーワード(6)（和/英） | 正規分布 / normal distribution |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 福本 聡 / Satoshi FUKUMOTO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 首都大学東京 工学研究科 電気工学専攻 Tokyo Metropolitan University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 黒川 晴申 / Harunobu KUROKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 首都大学東京 工学研究科 電気工学専攻 Tokyo Metropolitan University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 新井 雅之 / Masayuki ARAI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 首都大学東京 工学研究科 電気工学専攻 Tokyo Metropolitan University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 岩崎 一彦 / Kazuhiko IWASAKI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 首都大学東京 工学研究科 電気工学専攻 Tokyo Metropolitan University |
| 発表年月日 | 2006/2/10 |
| 資料番号 | DC2005-75 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 607 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |