| 講演名 | 2006-02-27 導波管型微小開口プローブを用いた誘電率計測(レーダとその応用,及び一般) 鈴木 俊達, 杉本 賢一, 山上 祐希, 根岸 忠弘, 渡辺 康夫, |
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| 抄録(和) | 細胞などの微細な構造の解析をミリ・サブミリ波帯で行う方法として,微小開口放射電波の対象物による反射・透過特性を利用する方法が提案されている.これを実現するため,60GHz帯導波管(WR-15)の先端を導体板で塞ぎ中央に0.5mmまたは0.1mmの微小開口を設けた2種類の微小開口プローブを製作した.初期性能評価として誘電率の明らかなPTFE (テフロン)を用いプローブを送信側,ホーンアンテナを受信側とし,誘電体の有無による透過位相差から比誘電率を計測した.あわせて送受信ともにホーンアンテナを用いた従来型の誘電率計測を行い,各々の計測結果を比較した. |
| 抄録(英) | For dielectric constant measurement of areas smaller than the wavelength, this paper proposes a method of employing waveguide-type microscopic aperture probe. The probe is made of WR-15 waveguide with one end shielded with metal plate of 0.3mm, on which a 0.5mm-dia or a 0.1mm-dia aperture is made. The dielectric constant is derived from the slope of phase difference swept over 50-70 GHz between the cases of free-space transmission with and without the dielectrics. In order to evaluate the system, the dielectric constant of PTFE (Teflon) has been measured by three cases of using the probes of 0.5mm-dia and 0.1mm-dia, and two V-band corrugated horns. The results show good agreement. |
| キーワード(和) | 誘電率 / 導波管 / 微小開口 / PTFE / ミリ・サブミリ波 |
| キーワード(英) | permittivity / waveguide / microscopic aperture / PTFE / millimeter/submillimeter wave |
| 資料番号 | SANE2005-100 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SANE |
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| 開催期間 | 2006/2/20(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Space, Aeronautical and Navigational Electronics (SANE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 導波管型微小開口プローブを用いた誘電率計測(レーダとその応用,及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Dielectric Measurement by Waveguide-Type Microscopic Aperture Probe |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 誘電率 / permittivity |
| キーワード(2)（和/英） | 導波管 / waveguide |
| キーワード(3)（和/英） | 微小開口 / microscopic aperture |
| キーワード(4)（和/英） | PTFE / PTFE |
| キーワード(5)（和/英） | ミリ・サブミリ波 / millimeter/submillimeter wave |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 鈴木 俊達 / Toshitatsu SUZUKI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本工業大学工学部 Faculty of Engineering, Nippon Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 杉本 賢一 / Kenichi SUGIMOTO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本工業大学工学部 Faculty of Engineering, Nippon Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山上 祐希 / Yuki YAMAGAMI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本工業大学工学部 Faculty of Engineering, Nippon Institute of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 根岸 忠弘 / adahiro NEGISHI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 日本工業大学工学部 Faculty of Engineering, Nippon Institute of Technology |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 渡辺 康夫 / Yasuo WATANABE |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 日本工業大学工学部 Faculty of Engineering, Nippon Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2006-02-27 |
| 資料番号 | SANE2005-100 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 618 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |