| 講演名 | 2006-02-17 スポッティバイト誤り制御符号評価回路の開発(衛星通信システムと衛星搭載機器及び一般) 笹田 武志, 金子 晴彦, 今城 英樹, |
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| 抄録(和) | 衛星搭載用半導体メモリ装置(SSR)に記録したデータは,宇宙放射線の影響によりソフトエラー(ビット反転)が発生するため,データの誤りを訂正または検出するための誤り制御符号(ECC)が必須である.従来の搭載用ECCは,訂正・検出能力が弱い,または符号化率の低い(冗長ビットの多い)ものであった.宇宙航空研究開発機構(JAXA)では,訂正・検出能力,符号化率,回路規模,動作速度等の観点から搭載用として実現可能性の高いReed-Solomon符号及びスポッティバイト誤り制御符号の6種類のECCを実装したFPGAを開発した.本稿では,これらのECC評価回路の開発結果について示す. |
| 抄録(英) | Error control coding is essential for semiconductor memory systems used in the space radiation environment because single event upsets (SEUs) are often observed in these memory systems. Conventional error control codes, such as Hamming codes and Reed-Solomon (RS) codes, are not necessarily suitable for the memory systems, because Hamming codes cannot correct random multiple-bit errors while RS codes require a large number of check bits for large byte length b. Recently, a new class of error control codes suitable for correcting multiple bit errors in a byte, called spotty byte error control codes, has been proposed. This report presents development of encoder and parallel decoder for three classes of RS codes and for three classes of spotty byte error control codes, which are implemented using an FPGA. |
| キーワード(和) | シングルイベント効果 / ECC / スポッティバイト誤り / Reed-Solomon符号 / 符号化/復号回路 |
| キーワード(英) | Single-Event Effect / ECC / Spotty byte error / Reed-Solomon code / encoder/decode circuit |
| 資料番号 | SAT2005-57 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SAT |
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| 開催期間 | 2006/2/10(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Satellite Telecommunications (SAT) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | スポッティバイト誤り制御符号評価回路の開発(衛星通信システムと衛星搭載機器及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Development of Test Circuit for Spotty Byte Error Control Codes |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | シングルイベント効果 / Single-Event Effect |
| キーワード(2)（和/英） | ECC / ECC |
| キーワード(3)（和/英） | スポッティバイト誤り / Spotty byte error |
| キーワード(4)（和/英） | Reed-Solomon符号 / Reed-Solomon code |
| キーワード(5)（和/英） | 符号化/復号回路 / encoder/decode circuit |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 笹田 武志 / Takeshi SASADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | (独)宇宙航空研究開発機構 Japan Aerospace Exploration Agency Tsukuba Space Center |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 金子 晴彦 / Haruhiko KANEKO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | (独)宇宙航空研究開発機構 Japan Aerospace Exploration Agency Tsukuba Space Center |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 今城 英樹 / Hideki IMASHIRO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | (株)日立インフォメーションテクノロジー Hitachi Information Technology Co., Ltd. |
| 発表年月日 | 2006-02-17 |
| 資料番号 | SAT2005-57 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 605 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |