| 講演名 | 2006-01-28 Solid State Thick Film X-ray Image Sensor , |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | X-ray response of polycrystalline-CdZnTe were measured by signal to noise(S/N) analysis. The CdZnTe material has optimal property in solid state X-ray detector and many research presented on single crystal CdZnTe with small sized silicon readout device, but it would be difficult to apply CdTe or CdZnTe single crystal to large area-flat pannel detectors such as radiography and mammography. As alternative of single crystal, we have grown polycrystalline CdZnTe thick films of high resistivity (>5 X10^9 Ohm cm) by thermal evaporation method on carbon substrate. A high signal-to-noise has a direct impact on the performance of CdZnTe X-ray detectors. Important image parameter such as dynamic range and detective quantum efficiency, rely on the signal and noise characteristics of the system. In this paper, we analyzed property of x-ray detector and obtained image of x-ray detector using data acquisition system. X-ray detector used the Cdl-xZnxTe(x=0.04) which used carbon substrate and gold as electrode. The detector design is planar, 32mm×10mm size and 1.75mm×1mm pixel electrode size and 150μm detector thickness. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | CdTe / CdZnTe / X-ray detector / flat-pannel |
| 資料番号 | MI2005-142 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MI |
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| 開催期間 | 2006/1/21(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Medical Imaging (MI) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Solid State Thick Film X-ray Image Sensor |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / CdTe |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | / Yun YI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Dept. of Electronics & Information Engineering, Korea University |
| 発表年月日 | 2006-01-28 |
| 資料番号 | MI2005-142 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 580 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 3 |
| 発行日 | |