| 講演名 | 2006-02-02 表面形状の測定データを用いた不規則表面の粗さのパラメータの推定(フォトニックNW・デバイス, フォトニック結晶・ファイバとその応用, 光集積回路, 光導波路素子, 光スイッチング, 導波路解析, 及び一般) 西本 昌彦, 木村 優祐, |
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| 抄録(和) | 波動散乱現象は表面の粗さによって大きく変化するため, 反射・散乱を利用した各種光デバイスやセンシング技術では, その表面の不規則性が特性に大きな影響を及ぼす.このため, 実際に表面を計測したデータから, 表面の粗さのパラメータを推定しておく必要がある.しかし, この推定には計測データの不完全性に伴う推定誤差が含まれる.本報告では, 実際に粗面の平均自乗高さ及び相関長を推定する場合に, どの程度のデータ記録長やサンプル数が必要であるのかを統計的な誤差評価によって検討する.また, モンテカルロシミュレーションにより確認する. |
| 抄録(英) | Since many naturally occurring surfaces have Gaussian height distribution, physical characteristics of them can be described by two kinds of roughness parameters alone, the root-mean-square (rms) height and correlation length. When we accurately estimate these parameters from measured surface height-profile, data samples with sufficiently long record length are required. However, the criterion of the data length required for accurate estimation of the parameters is not clear. In this report, we statistically estimate the error arising from the data length and check the results through a Monte Carlo simulation. From this analysis, we can confirm that for estimation of the rms height and correlation length with a precision of 10%, data lengths of 240lc and 270lc are required, respectively, where lc is the true value of the correlation length. |
| キーワード(和) | 不規則表面 / 平均二乗高さ / 相関長 |
| キーワード(英) | rough surface / root mean square height / correlation length |
| 資料番号 | PN2005-86,OFT2005-73,OPE2005-134,LQE2005-149 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OFT |
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| 開催期間 | 2006/1/26(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Optical Fiber Technology (OFT) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 表面形状の測定データを用いた不規則表面の粗さのパラメータの推定(フォトニックNW・デバイス, フォトニック結晶・ファイバとその応用, 光集積回路, 光導波路素子, 光スイッチング, 導波路解析, 及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Estimation of Rough Surface Parameters from Measured Surface Profile Data |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 不規則表面 / rough surface |
| キーワード(2)（和/英） | 平均二乗高さ / root mean square height |
| キーワード(3)（和/英） | 相関長 / correlation length |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 西本 昌彦 / Masahiko NISHIMOTO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 熊本大学工学部 Faculty of Engineering, Kumamoto University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 木村 優祐 / Yusuke KIMURA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 熊本大学工学部 Faculty of Engineering, Kumamoto University |
| 発表年月日 | 2006-02-02 |
| 資料番号 | PN2005-86,OFT2005-73,OPE2005-134,LQE2005-149 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 587 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |