講演名 2002/6/24
A Novel Power MOSFET Structure with Split P-well and Split Poly Design
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抄録(和)
抄録(英) A noble high breakdown Power MOSFET structure with split p-well and split poly has been proposed and discussed. A full-simulation combines device simulator 'MEDICI' and process simulator 'TSUPREM-4' to develop this device has also been presented. Floating guard rings and field plate technologies are used to provide a device with a breakdown voltage of 450V. Split p-well with a heavy p+ region design can relocate the breakdown point as well as decrease the bipolar effect, and therefore improve device avalanche breakdown characteristics. Split ploy with proper implant technology can reduce JFET effect, and the on resistance of Power MOSFET can be reduced. In addition, the gate charge performance can be reduced to half of the original design. Combining split p-well and split poly design of Power MOSFT, the performance of this device can be further improved.
キーワード(和)
キーワード(英) Power MOSFET / on resistance / gate charge
資料番号 ED2002-126
発行日

研究会情報
研究会 ED
開催期間 2002/6/24(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electron Devices (ED)
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) A Novel Power MOSFET Structure with Split P-well and Split Poly Design
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) / Power MOSFET
第 1 著者 氏名(和/英) / Feng-Tso Chien
第 1 著者 所属(和/英)
Dept. of Electronic Engineering, Feng Chia University
発表年月日 2002/6/24
資料番号 ED2002-126
巻番号(vol) vol.102
号番号(no) 175
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日