講演名 2002/4/19
光照射による石英系AWG特性の調節とその信頼性
阿部 淳, 高田 和正, 田中 拓也, 柴田 知尋, 日比野 善典,
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抄録(和) AWGを含む石英系PLCデバイス高性能化のため,紫外レーザー光誘起屈折率変化Δnを利用したAWGの位相誤差補償及びその良好な長期信頼性結果に関し報告する.
抄録(英) To meet with progress of WDM optical transmission systems, we are developing various kinds of silica-based waveguide devices such as arrayed-waveguide grating multi/demultiplexers with high performance including low loss, crosstalk, and dispersion. We report that our trimming techniques using refractive index change induced by UV laser light irradiation are very useful for fabrication of these WDM devices. We also report on the good reliabilities of photosensitive phase trimmed silica-based devices.
キーワード(和) 石英系 / 光回路 / 導波路 / 波長合分波器 / 光照射 / AWG / PLC / silica / waveguide
キーワード(英) PLC / photosensitivity / silica / waveguide / WDM / multi/demultiplexer / AWG
資料番号 OPE2002-7
発行日

研究会情報
研究会 OPE
開催期間 2002/4/19(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Optoelectronics (OPE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 光照射による石英系AWG特性の調節とその信頼性
サブタイトル(和)
タイトル(英) Photosensitive phase trimming technique for silica-based AWGs and its reliability
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 石英系 / PLC
キーワード(2)(和/英) 光回路 / photosensitivity
キーワード(3)(和/英) 導波路 / silica
キーワード(4)(和/英) 波長合分波器 / waveguide
キーワード(5)(和/英) 光照射 / WDM
キーワード(6)(和/英) AWG / multi/demultiplexer
キーワード(7)(和/英) PLC / AWG
キーワード(8)(和/英) silica
キーワード(9)(和/英) waveguide
第 1 著者 氏名(和/英) 阿部 淳 / Makoto ABE
第 1 著者 所属(和/英) NTTフォトニクス研究所
NTT Photonics Labs.
第 2 著者 氏名(和/英) 高田 和正 / Kazumasa TAKADA
第 2 著者 所属(和/英) NTTフォトニクス研究所
NTT Photonics Labs.
第 3 著者 氏名(和/英) 田中 拓也 / Takuya TANAKA
第 3 著者 所属(和/英) NTTフォトニクス研究所
NTT Photonics Labs.
第 4 著者 氏名(和/英) 柴田 知尋 / Tomohiro SHIBATA
第 4 著者 所属(和/英) NTTフォトニクス研究所
NTT Photonics Labs.
第 5 著者 氏名(和/英) 日比野 善典 / Yoshinori HIBINO
第 5 著者 所属(和/英) NTTフォトニクス研究所
NTT Photonics Labs.
発表年月日 2002/4/19
資料番号 OPE2002-7
巻番号(vol) vol.102
号番号(no) 38
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日