| 講演名 | 2005/11/17 CYTOP薄膜の誘電・絶縁特性(機能性有機薄膜・一般) 田口 裕一, 伊東 栄次, 宮入 圭一, |
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| 抄録(和) | スピンコートなどのウェットプロセスにより高品位なアモルファスフッ素化高分子薄膜として応用が期待されるサイトップ(CYTOP: 旭硝子)の誘電特性と絶縁性能の調査を行った。サイトップ膜の自己回復性破壊後における30℃での交流絶縁破壊の強さはおよそ3MV/cmであり、材料固有の誘電正接は10^<-4>程度であった。またI-V特性の結果から漏れ電流も1.5MV/cmにおいて80pA/cm^2以下となり、電気絶縁材料として良質な材料であることがわかった。ガラス転移温度(108℃)前後では破壊のメカニズムが変わることが確認された。ガラス転移温度以上では誘電体損やイオン伝導が大きくなり、絶縁破壊の強さを低下させると考えられる。 |
| 抄録(英) | We have investigated the dielectric and electrical insulating properties of CYTOP evaluated as amorphous fluorinated polymeric thin film, which has the glass transition temperature of 108℃. After the several hundreds of self-healing breakdown tests, the breakdown strength was 3MV/cm at 30℃. The dielectric loss tangent (tan δ) becomes 10^<-4> order and the leakage current of less than 80pA/cm^2 was obtained at 1.5MV/cm. The breakdown strength strongly depends on the temperature especially around T_g. From dielectric properties and current-voltage characteristics at high temperature region, remarkable increase in both dielectric loss and ionic conductivity influence on the steep decrease of the breakdown mechanism. |
| キーワード(和) | サイトップ / 絶縁破壊 / 誘電特性 / ガラス転移温度 / 漏れ電流 |
| キーワード(英) | CYTOP / Breakdown / Dielectric property / Glass transition temperature(T_g) / Leakage current |
| 資料番号 | OME2005-81 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME |
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| 開催期間 | 2005/11/17(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Organic Material Electronics (OME) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | CYTOP薄膜の誘電・絶縁特性(機能性有機薄膜・一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Dielectric and Electrical insulating Properties of CYTOP thin film |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | サイトップ / CYTOP |
| キーワード(2)（和/英） | 絶縁破壊 / Breakdown |
| キーワード(3)（和/英） | 誘電特性 / Dielectric property |
| キーワード(4)（和/英） | ガラス転移温度 / Glass transition temperature(T_g) |
| キーワード(5)（和/英） | 漏れ電流 / Leakage current |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 田口 裕一 / Hirokazu TAGUCHI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 信州大学工学部 Faculty of Engineering, Shinshu University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 伊東 栄次 / Eiji ITOH |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 信州大学工学部 Faculty of Engineering, Shinshu University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 宮入 圭一 / Keiichi MIYAIRI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 信州大学工学部 Faculty of Engineering, Shinshu University |
| 発表年月日 | 2005/11/17 |
| 資料番号 | OME2005-81 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 425 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |