| 講演名 | 2005-12-02 論理回路のSmall-World性およびScale-Free性の考察(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア)) 宮崎 敏明, |
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| 抄録(和) | 自然界・人口物を問わずネットワーク構造の中にSmall-World(SW)性やScale-Free(SF)性が存在することが数多く報告されている.SW/SFネットワークは, 情報伝達が早く, ノードのランダム故障に対して頑健性があることが知られている.本稿では, 論理回路を上記観点から検証した結果を報告する.検証に用いたベンチマーク回路の内, 比較的大規模な回路にSW/SF性が見られた.また, 同一RTL記述から最適化の有無で論理合成した2つ回路を比較した結果, 各回路内の論理ゲートのfanout数の累積度数分布は, 最適化の有無に関わらずSF性があることが分かった. |
| 抄録(英) | Recently, it has been reported that many networks existing in both natural and artificial things have the Small-World (SF) and/or Scale-Free (SF) characteristics. In general, the SW/SF networks can propagate information quickly from one to another, and have some robustness for random accidents or attacks. In this paper, we describe the results examining benchmark circuits from the SW/SF point of view. Relatively large circuits have the SW/SF characteristics. In addition, we compare two circuits synthesized from the same RTL description : one is generated with optimization option while the other one is done without the optimization. The distributions of the number of fanouts in both circuits follow the power-low, and both of them have the SF characteristics. |
| キーワード(和) | スモールワールド / スケールフリー / 論理最適化 |
| キーワード(英) | small-world / scale-free / logic optimization |
| 資料番号 | VLD2005-82,ICD2005-177,DC2005-59 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2005/11/25(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 論理回路のSmall-World性およびScale-Free性の考察(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア)) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Examinations of Small-World and Scale-Free characteristics in logic circuits |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | スモールワールド / small-world |
| キーワード(2)（和/英） | スケールフリー / scale-free |
| キーワード(3)（和/英） | 論理最適化 / logic optimization |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 宮崎 敏明 / Toshiaki MIYAZAKI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 会津大学コンピュータ理工学部 School of Computer Science and Engineering, The University of Aizu |
| 発表年月日 | 2005-12-02 |
| 資料番号 | VLD2005-82,ICD2005-177,DC2005-59 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 443 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
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