| 講演名 | 2005-12-02 スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア)) 鈴木 達也, 温 暁青, 梶原 誠司, 宮瀬 紘平, 皆本 義弘, |
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| 抄録(和) | スキャンテストのキャプチャ時においてフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度のIRドロップを引き起こす可能性があり, それは深刻な歩留まりの低下につながる.本論文では, テスト集合変更に基づいた手法を用いる.提案手法の特徴は(1)与えられたテストパターンに対し, 故障検出率を低下させずに, 選択したビットをドントケア(X)に変える新しい制約X判定手法と, (2)キャプチャ時の論理値の遷移数を削減するLCP(Low Capture Power)のため, Xへの論理値割り当て手法である.提案手法はチップ面積, タイミング, テスト集合サイズ, および故障検出率に影響なくキャプチャ時の消費電力を削減するため, テスト生成フローへ容易に組み込むことが出来る.ベンチマーク回路での実験結果は提案手法の効果を示している. |
| 抄録(英) | High switching activity occurs when the response to a test vector is captured by flip-flops during scan testing. This may cause excessive IR drop, resulting in significant test-induced yield loss. The paper addresses this problem with a novel method based on test set modification, featuring (1) a new constrained X-identification procedure that turns a properly selected set of bits in a fully-specified test set into X-bits without fault coverage loss and (2) a new LCP (low capture power) X-filling procedure that optimally assigns 0's and 1's to the X-bits to reduce the switching activity of the resulting test set in capture mode. This method can be readily incorporated in any test generation flow to efficiently reduce capture power dissipation without any impact on area, timing, test set size, and fault coverage. Experimental results on benchmark circuits have shown its effectiveness. |
| キーワード(和) | キャプチャ低消費電力 / ドントケア判定 / ドントケアへの論理値割り当て |
| キーワード(英) | Low Capture Power / X-Identification / X-filling |
| 資料番号 | VLD2005-76,ICD2005-171,DC2005-53 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2005/11/25(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア)) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On Low Capture Power Test Generation for Scan Testing |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | キャプチャ低消費電力 / Low Capture Power |
| キーワード(2)（和/英） | ドントケア判定 / X-Identification |
| キーワード(3)（和/英） | ドントケアへの論理値割り当て / X-filling |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 鈴木 達也 / Tatsuya SUZUKI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学 Kyushu Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 温 暁青 / Xiaoqing WEN |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学 Kyushu Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji KAJIHARA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学 Kyushu Institute of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 宮瀬 紘平 / Kohei MIYASE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 科学技術振興機構 Japan Science and Technology Agency |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 皆本 義弘 / Yoshihiro MINAMOTO |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 科学技術振興機構 Japan Science and Technology Agency |
| 発表年月日 | 2005-12-02 |
| 資料番号 | VLD2005-76,ICD2005-171,DC2005-53 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 443 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |