| 講演名 | 2005-11-25 Scanチェーンを活用した故障部位特定手法とその解析事例(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般) 片岡 武, 渡部 尚数, 河南 靖, 田中 雅二, |
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| 抄録(和) | ロジック回路の故障に対し、LSIテスタと解析ソフトウェアを組み合わせて被疑故障ノードを抽出する故障診断システムが広く用いられている。このシステムはScanチェーンを利用して組み合わせ回路を診断するものである。一方、Scanチェーンが正常動作しない不良品に対しては、従来は十分な取り組みがされていなかった。本稿では、このような不良品の故障部位を特定するため2つのアプローチを取り上げる。一つは、FFの初期値を利用して故障FFを絞りこむScanチェーン診断を発展させたものである。もう一つは、電源電圧に依存した不具合をもつ不良品に対して有効な電圧シフト法である。それぞれ手法について解析事例により有用性を確認できたため、その内容を報告する。 |
| 抄録(英) | Fault diagnosis system which extracts a suspicion failure node of the logic circuit by using LSI tester and analytical software is widely used. However, the fault diagnosis of the case where scan chain does not operate normally was not developed sufficiently. In this paper, we pick up two methods for specifying a failure point in this kind of case. One is a localization method led from scan chain diagnosis for which failure FF is specified by using an initial value of FF. Another is voltage shift method which can be applied to the failure LSI that has a failure which depends on power supply voltage. |
| キーワード(和) | 故障診断 / 部位特定 / LSIテスタ |
| キーワード(英) | fault diagnosis / localization / LSI tester / scan |
| 資料番号 | R2005-42,ED2005-177,SDM2005-196 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SDM |
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| 開催期間 | 2005/11/18(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Silicon Device and Materials (SDM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | Scanチェーンを活用した故障部位特定手法とその解析事例(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Localization Method of Failure Point with Scan Chain |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(2)（和/英） | 部位特定 / localization |
| キーワード(3)（和/英） | LSIテスタ / LSI tester |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 片岡 武 / Takeshi KATAOKA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 松下電器産業株式会社半導体社グローバル品質管理センター Global Quality Control Center, Semiconductor Company, Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 渡部 尚数 / Hisakazu WATANABE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 松下電器産業株式会社半導体社グローバル品質管理センター Global Quality Control Center, Semiconductor Company, Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 河南 靖 / Yasushi KANNAN |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 松下電器産業株式会社半導体社グローバル品質管理センター Global Quality Control Center, Semiconductor Company, Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 田中 雅二 / Masaji TANAKA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 松下電器産業株式会社半導体社グローバル品質管理センター Global Quality Control Center, Semiconductor Company, Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. |
| 発表年月日 | 2005-11-25 |
| 資料番号 | R2005-42,ED2005-177,SDM2005-196 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 436 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |