講演名 2005-10-21
SAMを用いたライトストラテジ最適化技術(光記録技術、一般)
足立 佳久, 栄藤 淳, 石井 光夫, 前田 茂己, 小嶋 邦男,
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抄録(和) 光ディスク上に記録マークを形成するためにライトストラテジと呼ばれるパルスパターンの照射を行う.高密度記録のためのデータ検出方式PRML(Partial Response Maximum Likelihood)を用いたシステムを評価する指標としてSAM(Sequenced Amplitude Margin)がある.SAMを基準とした新規指標を用いて, パルスだけでなくパワーのずれの方向と大きさを検出し, ライトストラテジを最適化する手法について報告する.検証結果より, 本手法にて的確な調整が行われ, 良好なビットエラーレートと記録パワーマージンが確保できることを示す.
抄録(英) We proposed a new method for adjusting write strategy in partial response maximum likelihood systems. It utilizes novel indices calculated from sequenced amplitude margin and produces both a low bit error rate and a wide recording power margin.
キーワード(和) 光ディスク / ビットエラーレート / 記録パワーマージン / ライトストラテジ
キーワード(英) optical disk / PRML / bit error rate / recording power margin / sequenced amplitude margin / write strategy
資料番号 CPM2005-147
発行日

研究会情報
研究会 CPM
開催期間 2005/10/14(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Component Parts and Materials (CPM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) SAMを用いたライトストラテジ最適化技術(光記録技術、一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) New Method for Adjusting Write Strategy using Sequenced Amplitude Margin
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 光ディスク / optical disk
キーワード(2)(和/英) ビットエラーレート / PRML
キーワード(3)(和/英) 記録パワーマージン / bit error rate
キーワード(4)(和/英) ライトストラテジ / recording power margin
第 1 著者 氏名(和/英) 足立 佳久 / Yoshihisa ADACHI
第 1 著者 所属(和/英) シャープ株式会社技術本部
Corporate research and development group, SHARP CORPORATION
第 2 著者 氏名(和/英) 栄藤 淳 / Atsushi ETOH
第 2 著者 所属(和/英) シャープ株式会社技術本部
Corporate research and development group, SHARP CORPORATION
第 3 著者 氏名(和/英) 石井 光夫 / Mitsuo ISHII
第 3 著者 所属(和/英) シャープ株式会社技術本部
Corporate research and development group, SHARP CORPORATION
第 4 著者 氏名(和/英) 前田 茂己 / Shigemi MAEDA
第 4 著者 所属(和/英) シャープ株式会社技術本部
Corporate research and development group, SHARP CORPORATION
第 5 著者 氏名(和/英) 小嶋 邦男 / Kunio KOJIMA
第 5 著者 所属(和/英) シャープ株式会社技術本部
Corporate research and development group, SHARP CORPORATION
発表年月日 2005-10-21
資料番号 CPM2005-147
巻番号(vol) vol.105
号番号(no) 360
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日