| 講演名 | 2005-10-21 マイクロプロセッサの熱解析に関する研究(プロセッサ, DSP, 画像処理技術及び一般) 長谷川 直之, 伊藤 睦夫, 江川 隆輔, 鈴木 健一, 中村 維男, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 近年の半導体加工技術の進歩と新しいマイクロアーキテクチャにより、マイクロプロセッサの性能は劇的に向上している。しかし、それに伴いチップ自体の発熱問題が表面化し、チップ内部の温度分布を扱える熱解析と熱を考慮した回路設計の重要性が増している。早期設計段階のみを対象とした既存の熱解析手法は機能ブロック単位で発熱源をモデル化しているため、スタンダードセルを用いたより詳細な設計段階において熱の振舞いを正確に把握し設計に反映させることが困難である。そこで本研究では、論理ゲートを発熱源とする細粒度の発熱モデルを用いた熱解析手法を提案し、細粒度発熱モデルによって得られる温度プロファイルを定量的に評価し、本提案手法の有効性について論じる。 |
| 抄録(英) | Recently, the advance in the semiconductor process technology and the modern microarchitectural techniques have enabled microprocessors to obtain higher performance continuously. However, as a result of the radical improvement, in turn, inevitable high temperature induced by the circuits restricts the performance and reliability. Consequently, it is very important to analyze on-chip temperature distribution and apply the results of it to the design. Conventionally, most of the existing thermal analyzing methods regard a functional block as a heat source due to focusing on early design stages. It has a difficulty in comprehending and making use of the thermal behavior on later design stages. In our study, we propose a fine-grain thermal analysis method modeling a logic gate as a unit of a heat source. This paper shows quantitative evaluations of the effect of the fine-grain heat source model, and discusses the effectiveness of our proposal. |
| キーワード(和) | 熱解析 / セルレベル / ホットスポット |
| キーワード(英) | Thermal Analysis / Cell Level / Hotspot |
| 資料番号 | SIP2005-117,ICD2005-136,IE2005-81 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | IE |
|---|---|
| 開催期間 | 2005/10/14(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Image Engineering (IE) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | マイクロプロセッサの熱解析に関する研究(プロセッサ, DSP, 画像処理技術及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Thermal Analysis on Microprocessors |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 熱解析 / Thermal Analysis |
| キーワード(2)（和/英） | セルレベル / Cell Level |
| キーワード(3)（和/英） | ホットスポット / Hotspot |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 長谷川 直之 / Naoyuki HASEGAWA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東北大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Tohoku University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 伊藤 睦夫 / MUTSUO Ito |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東北大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Tohoku University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 江川 隆輔 / Ryusuke EGAWA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東北大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Tohoku University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 鈴木 健一 / Kenichi SUZUKI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東北大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Tohoku University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 中村 維男 / Tadao NAKAMURA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 東北大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences, Tohoku University |
| 発表年月日 | 2005-10-21 |
| 資料番号 | SIP2005-117,ICD2005-136,IE2005-81 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 354 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |