| 講演名 | 2005-10-27 高周波インピーンス標準の供給とベクトルネットワークアナライザの残留誤差評価(PLC・標準・無線基地局関連, マイクロ波EMC/一般) 堀部 雅弘, 信太 正明, 小見山 耕司, |
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| 抄録(和) | 携帯端末などの高周波利用機器の利用が一般社会で拡大しており、高周波標準の重要性がますます大きくなっている。(独)産業技術総合研究所軽量標準総合センターは産業界からの要望を受けて、これまでにPC-7コネクタの高周波インピーダンス標準の供給を行っており、N型およびPC-3.5コネクタについても標準整備をすすめている。高周波インピーダンスの標準供給には標準器、測定器および測定方法の整備が不可欠であり、これまでに標準開発と測定方法について報告してきた。そこで、校正不確かさの大きな要素である測定器の不確かさとその評価法について述べる。 |
| 抄録(英) | By increase in the use of the mobile devices using high-frequency technologies in the general public, high-frequency standards be becoming more and more important in the industries. NMIJ-AIST use the feedback from market needs to establish the calibration services for high-frequency impedance, and develop the coaxial high-frequency impedance standards with Type-N and PC-3.5 connectors. There are important to develop and evaluate the standards, measurement system and its method for calibration services. The development and evaluation of impedance standards and measurement method have been reported. So, we report the way of evaluating VNA uncertainties which is major in the total uncertainty of measurement. |
| キーワード(和) | 高周波同軸インピーダンス / ベクトルネットワークアナライザ / 残留不確かさ |
| キーワード(英) | high-frequency coaxial impedance / PC-7 connector / Vector network analyzer / Residual uncertainty |
| 資料番号 | EMCJ2005-84,MW2005-90 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
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| 開催期間 | 2005/10/20(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromagnetic Compatibility (EMCJ) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 高周波インピーンス標準の供給とベクトルネットワークアナライザの残留誤差評価(PLC・標準・無線基地局関連, マイクロ波EMC/一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Calibration Services of Metrological High-Frequency Impedance Standards and Evaluation of Residual Error in Vector Network Analyzer |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 高周波同軸インピーダンス / high-frequency coaxial impedance |
| キーワード(2)（和/英） | ベクトルネットワークアナライザ / PC-7 connector |
| キーワード(3)（和/英） | 残留不確かさ / Vector network analyzer |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 堀部 雅弘 / Masahiro Horibe |
| 第 1 著者 所属（和/英） | (独)産業技術総合研究所計量標準総合センター National Institutes of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), National Metrology Institute of Japan (NMIJ) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 信太 正明 / Masaaki Shida |
| 第 2 著者 所属（和/英） | (独)産業技術総合研究所計量標準総合センター National Institutes of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), National Metrology Institute of Japan (NMIJ) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 小見山 耕司 / Koji Komiyama |
| 第 3 著者 所属（和/英） | (独)産業技術総合研究所計量標準総合センター National Institutes of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), National Metrology Institute of Japan (NMIJ) |
| 発表年月日 | 2005-10-27 |
| 資料番号 | EMCJ2005-84,MW2005-90 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 366 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |