講演名 | 2005-09-16 Flex Power FPGAのしきい値電圧制御粒度の評価(デバイスアーキテクチャII) 日置 雅和, 河並 崇, 堤 利幸, 中川 格, 関川 敏弘, 小池 汎平, |
---|---|
PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
抄録(和) | しきい値電圧制御により動作スピードと消費電力を柔軟に制御可能なFlex Power FPGAについて、しきい値電圧制御を行うFPGA回路ブロックの粒度に対する面積オーバーヘッドとスタティック電力の評価結果を示す。 |
抄録(英) | Flex Power FPGA can flexibly control the operating speed and power consumption by the threshold voltage of transistor. This paper reports about the evaluation results of area overhead and static power on threshold voltage control granurality in the Flex Power FPGA. |
キーワード(和) | しきい値電圧制御 / 面積オーバーヘッド / スタティック電力 |
キーワード(英) | Flex Power FPGA / Threshold voltage control / Area overhead / Static power consumption |
資料番号 | RECONF2005-45 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | RECONF |
---|---|
開催期間 | 2005/9/9(から1日開催) |
開催地(和) | |
開催地(英) | |
テーマ(和) | |
テーマ(英) | |
委員長氏名(和) | |
委員長氏名(英) | |
副委員長氏名(和) | |
副委員長氏名(英) | |
幹事氏名(和) | |
幹事氏名(英) | |
幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Reconfigurable Systems (RECONF) |
---|---|
本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | Flex Power FPGAのしきい値電圧制御粒度の評価(デバイスアーキテクチャII) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Evaluation of Granurality on Threshold Voltage Control in Flex Power FPGA |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | しきい値電圧制御 / Flex Power FPGA |
キーワード(2)(和/英) | 面積オーバーヘッド / Threshold voltage control |
キーワード(3)(和/英) | スタティック電力 / Area overhead |
第 1 著者 氏名(和/英) | 日置 雅和 / Masakazu HIOKI |
第 1 著者 所属(和/英) | 産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門エレクトロインフォマティクスグループ Electroinformatics Group, Nanoelectronics Research Institute, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology |
第 2 著者 氏名(和/英) | 河並 崇 / Takashi KAWANAMI |
第 2 著者 所属(和/英) | 産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門エレクトロインフォマティクスグループ Electroinformatics Group, Nanoelectronics Research Institute, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology |
第 3 著者 氏名(和/英) | 堤 利幸 / Toshiyuki TSUTSUMI |
第 3 著者 所属(和/英) | 産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門エレクトロインフォマティクスグループ:明治大学理工学部情報科学科 Electroinformatics Group, Nanoelectronics Research Institute, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology:Department of Computer Science, School of Science and Technology, Meiji University |
第 4 著者 氏名(和/英) | 中川 格 / Tadashi NAKAGAWA |
第 4 著者 所属(和/英) | 産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門エレクトロインフォマティクスグループ Electroinformatics Group, Nanoelectronics Research Institute, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology |
第 5 著者 氏名(和/英) | 関川 敏弘 / Toshihiro SEKIGAWA |
第 5 著者 所属(和/英) | 産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門エレクトロインフォマティクスグループ Electroinformatics Group, Nanoelectronics Research Institute, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology |
第 6 著者 氏名(和/英) | 小池 汎平 / Hanpei KOIKE |
第 6 著者 所属(和/英) | 産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門エレクトロインフォマティクスグループ Electroinformatics Group, Nanoelectronics Research Institute, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology |
発表年月日 | 2005-09-16 |
資料番号 | RECONF2005-45 |
巻番号(vol) | vol.105 |
号番号(no) | 288 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |