講演名 2002/11/8
高信頼性,波長ロッカ内蔵40mW,25GHz×20ch narrow thermally tunable DFB laser module
木本 竜也, 向原 智一, 田村 修一, 那須 秀行, 野村 剛彦, 粕川 秋彦,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) DWDM方式のチャネル間隔が100GHz間隔から50GHz,25GHz間隔と狭くなるに伴って,任意のチャネルに高精度にロック可能な波長ロッカを内蔵したLDモジュールが求められている.我々は,25GHz間隔のWDMに対応した波長ロッカを実装し,PMF出力40mWのDFB-LDモジュールの開発を行った.TECを用いて信頼性の高いDFB-LDチップの温度を約40℃変化させることにより,25GHz×20chの波長可変を実現した.LD部と波長ロッカ部を独立して制御できるTEC構造を用いることによりケース温度,LD駆動電流に対し波長ドリフト+/-0.1GHz以下を実現した.熱設計の最適化によりLDモジュール全体の消費電力5W以下を実現した.高温放置試験,加速劣化試験を行い,従来のDFB-LDモジュールに比べて複雑な構造であっても信頼性が高くDWDMシステムに適用可能であることを示した.
抄録(英) Recent progress in WDM systems requires the use of large number of channels as well as narrow channel spacing. Thus,it becomes important to control the optical frequency of each laser module precisely. We developed a thermally tunable DFB laser module integrated with a wavelength monitor. We achieved PMF coupled power>40mW, 25GHz×20ch tenability. We developed the separated TEC configuration to control the laser diode and the filter independently and achieved extremely small wavelength drift <+/-1.25GHz and lower TEC power consumption <5W with very promising aging data.
キーワード(和) WDM / 半導体レーザ / 波長ロッカ / 波長モニタ / 波長可変レーザ
キーワード(英) WDM / Semiconductor Laser / Wavelength Locker / Wavelength Monitor / Tunable Laser
資料番号 OPE2002-101
発行日

研究会情報
研究会 OPE
開催期間 2002/11/8(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Optoelectronics (OPE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 高信頼性,波長ロッカ内蔵40mW,25GHz×20ch narrow thermally tunable DFB laser module
サブタイトル(和)
タイトル(英) Highly reliable 40mW, 25GHz×20ch thermally tunable DFB laser module integrated with wavelength monitor
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) WDM / WDM
キーワード(2)(和/英) 半導体レーザ / Semiconductor Laser
キーワード(3)(和/英) 波長ロッカ / Wavelength Locker
キーワード(4)(和/英) 波長モニタ / Wavelength Monitor
キーワード(5)(和/英) 波長可変レーザ / Tunable Laser
第 1 著者 氏名(和/英) 木本 竜也 / Tatsuya KIMOTO
第 1 著者 所属(和/英) 古河電工横浜研究所半導体研究科発センター
Yokohama R&D Labs, The Furukawa Electric Co., Ltd.
第 2 著者 氏名(和/英) 向原 智一 / Toshikazu MUKAIHARA
第 2 著者 所属(和/英) 古河電工横浜研究所半導体研究科発センター
Yokohama R&D Labs, The Furukawa Electric Co., Ltd.
第 3 著者 氏名(和/英) 田村 修一 / Shuichi TAMURA
第 3 著者 所属(和/英) 古河電工横浜研究所半導体研究科発センター
Yokohama R&D Labs, The Furukawa Electric Co., Ltd.
第 4 著者 氏名(和/英) 那須 秀行 / Hideyuki NASU
第 4 著者 所属(和/英) 古河電工横浜研究所半導体研究科発センター
Yokohama R&D Labs, The Furukawa Electric Co., Ltd.
第 5 著者 氏名(和/英) 野村 剛彦 / Takehiko NOMURA
第 5 著者 所属(和/英) 古河電工横浜研究所半導体研究科発センター
Yokohama R&D Labs, The Furukawa Electric Co., Ltd.
第 6 著者 氏名(和/英) 粕川 秋彦 / Akihiko KASUKAWA
第 6 著者 所属(和/英) 古河電工横浜研究所半導体研究科発センター
Yokohama R&D Labs, The Furukawa Electric Co., Ltd.
発表年月日 2002/11/8
資料番号 OPE2002-101
巻番号(vol) vol.102
号番号(no) 449
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日