| 講演名 | 2005-12-16 情報セキュリティ向け超小型物理乱数生成回路(回路技術(一般, 超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ)) 安田 心一, 棚本 哲史, 大場 竜二, 安部 恵子, 野崎 華恵, 藤田 忍, |
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| 抄録(和) | 大きなノイズ信号を発生するシリコンナノデバイスをノイズ源として、これを利用することで小型の物理乱数生成回路を実現した。このノイズ源デバイスは、RC型の発振回路に直接組み込むことも可能であるし、高いノイズ強度を利用して、プリアンプを使わずにノイズ信号を差動アンプに入力することも可能である。本稿では無安定マルチバイブレータにノイズ源デバイスを組み込んだ乱数生成回路について紹介する。本回路は小型ながら、出力される乱数は情報セキュリティ技術に利用できるほどの高い乱数性を持っていることを確認した。また、差動アンプを使った乱数生成ビットレートの高い乱数生成回路についても併せて紹介する。 |
| 抄録(英) | We present small random number generators using silicon devices that generate large fluctuating signal as noise source devices. Since the noise signal of these devices is very large, the noise signal can be directly input to an RC oscillator or a differential amplifier without preamplifiers. In this paper, we present a small physical random number generator using an astable multivibrator and post-processing circuits, which can generate excellent quality random numbers suitable for cryptographic applications. We also introduce the concept of random number generator using a filter circuit and a differential amplification for high bit rate application. |
| キーワード(和) | 乱数 / 情報セキュリティ / ノイズ / 擬似破壊 |
| キーワード(英) | Random Number / Information Security / Noise / Soft Breakdown |
| 資料番号 | ICD2005-192 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2005/12/9(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 情報セキュリティ向け超小型物理乱数生成回路(回路技術(一般, 超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ)) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Ultra Small Random Number Generator for Information Security |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 乱数 / Random Number |
| キーワード(2)（和/英） | 情報セキュリティ / Information Security |
| キーワード(3)（和/英） | ノイズ / Noise |
| キーワード(4)（和/英） | 擬似破壊 / Soft Breakdown |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 安田 心一 / Shinichi YASUDA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 株式会社東芝研究開発センター Corporate R&D Center, Toshiba Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 棚本 哲史 / Tetsufumi TANAMOTO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 株式会社東芝研究開発センター Corporate R&D Center, Toshiba Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 大場 竜二 / Ryuji OHBA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 株式会社東芝研究開発センター Corporate R&D Center, Toshiba Corporation |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 安部 恵子 / Keiko ABE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 株式会社東芝研究開発センター Corporate R&D Center, Toshiba Corporation |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 野崎 華恵 / Hanae NOZAKI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 株式会社東芝研究開発センター Corporate R&D Center, Toshiba Corporation |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 藤田 忍 / Shinobu FUJITA |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 株式会社東芝研究開発センター Corporate R&D Center, Toshiba Corporation |
| 発表年月日 | 2005-12-16 |
| 資料番号 | ICD2005-192 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 476 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |