| 講演名 | 2005-12-09 方形空洞共振器のSパラメータ解析にもとづく複素誘電率測定法の検討(材料測定関連, 電力EMC/一般) 荻原 知洋, 香西 将樹, 西方 敦博, 福永 香, 山中 幸雄, |
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| 抄録(和) | 先に我々が提案した誘電体チューブ法の原理は誘電体円柱の複素誘電率測定にも適用できる。方形導波管の広壁側から円柱状や多層円筒状の試料を挿入して、Sパラメータより複素誘電率の周波数掃引測定を行う方法を総称して、円柱状試料挿入方形導波管法と呼ぶことにすれば、誘電体チューブ法はその一アプリケーションと位置づけられる。同方法では低損失材料の誘電正接を正確に求めることができない。そこで本報告では、円柱状試料挿入方形導波管法の装置に結合窓板を2枚追加して低損失材料の測定のための方形空洞共振器の構成にし、導波管の使用周波数帯域内で3点程度の測定を行うことを目標とし33-50GHzでの測定系を構築し、測定を行った。試料の複素比誘電率を共振器の透過Sパラメータの解析にもとづき求めた結果、試料の複素比誘電率を得ることができた。 |
| 抄録(英) | The dielectric tube method, which we have proposed, is also applicable to the complex permittivity measurement of dielectric materials. The method that inserts the specimen like a cylindrical or a multilayer cylinder, from the larger side of the rectangular waveguide, and measures complex permittivity with swept frequency by S-parameter is named as the cylindrical specimen inserted rectangular waveguide method. This method cannot accurately measure the dielectric loss factor of the low loss material. In this report, we measured by adding two coupling window plate to the device of this method to compose the rectangular cavity resonator to be able to measure the low loss material, and aiming measuring about three points in the waveguide frequency band. We call this method the cylindrical specimen inserted rectangular cavity resonator method. |
| キーワード(和) | 円柱状試料挿入方形空洞共振器法 / 低損失材料 / 複素誘電率 / Sパラメータ |
| キーワード(英) | Cavity resonator method / low loss material / complex permittivity / S-parameter |
| 資料番号 | EMCJ2005-126 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
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| 開催期間 | 2005/12/2(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromagnetic Compatibility (EMCJ) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 方形空洞共振器のSパラメータ解析にもとづく複素誘電率測定法の検討(材料測定関連, 電力EMC/一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Complex permittivity measurement by using rectangular cavity resonator based on S-parameter analysis |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 円柱状試料挿入方形空洞共振器法 / Cavity resonator method |
| キーワード(2)（和/英） | 低損失材料 / low loss material |
| キーワード(3)（和/英） | 複素誘電率 / complex permittivity |
| キーワード(4)（和/英） | Sパラメータ / S-parameter |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 荻原 知洋 / Tomohiro OGIWARA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京工業大学教育工学開発センター CRADLE, Tokyo Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 香西 将樹 / Masaki KOUZAI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京工業大学教育工学開発センター CRADLE, Tokyo Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 西方 敦博 / Atsuhiro NISHIKATA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東京工業大学教育工学開発センター:情報通信研究機構 CRADLE, Tokyo Institute of Technology:National Institute of Information and Communications Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 福永 香 / Kaori FUKUNAGA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構 National Institute of Information and Communications Technology |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 山中 幸雄 / Yukio YAMANAKA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構 National Institute of Information and Communications Technology |
| 発表年月日 | 2005-12-09 |
| 資料番号 | EMCJ2005-126 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 454 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
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