| 講演名 | 2000/2/18 非接触型ICカードの耐久性試験方法 下山 展弘, 伴 弘司, 竹田 忠雄, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 非接触型ICカードの耐久性試験方法について、その考え方と評価手法を検討した。カードの使用状態や携帯時の状況を想定し、荷重曲げ試験、点押圧試験、交互曲げ試験、衝撃落下試験を提案した。また、点押圧試験と衝撃落下試験について、試験条件を実際の使用状況を想定した応力測定により決定した。提案した各試験方法を用い、接触型ICカードと非接触型ICカードの耐久性試験を実施した。非接触型ICカードではICチップがPVCやPET等のカード材のみで覆われているため、外部応力がICチップ部分の耐久性に与える影響が重大な問題となる。この問題を解決するため、ICチップ部分に補強構造を設けることが耐久性を向上させる上で効果的であることを示した。 |
| 抄録(英) | This paper presents methods of endurance test for contactless IC cards. Assuming both the normal and incidental use of IC card, we propose four tests methods, those are bending and pressure, spot pressure, alternate bending, and impact. For spot pressure and impact tests, some testing conditions are determined based on the measured data. Using these test methods, we examined endurance for both a contact IC card and a contactless one. As IC chip for contactless IC card is covered with card material only, such as PVC or PET, the influence of an external stress on endurance of IC chip is serious problem. To solve this problem, we indicated that a use of reinforcement under IC chip improves endurance of IC chip for contactless IC card. |
| キーワード(和) | ICカード / 耐久性 / 試験方法 / 非接触型 / 応力 / 点押圧 / 衝撃落下 |
| キーワード(英) | IC card / endurance / test methods / contactless / stress / spot pressure / impact |
| 資料番号 | R99-37, EMD99-87 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
|---|---|
| 開催期間 | 2000/2/18(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 非接触型ICカードの耐久性試験方法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Endurance Test Methods for Contactless IC Cards |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ICカード / IC card |
| キーワード(2)（和/英） | 耐久性 / endurance |
| キーワード(3)（和/英） | 試験方法 / test methods |
| キーワード(4)（和/英） | 非接触型 / contactless |
| キーワード(5)（和/英） | 応力 / stress |
| キーワード(6)（和/英） | 点押圧 / spot pressure |
| キーワード(7)（和/英） | 衝撃落下 / impact |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 下山 展弘 / Nobuhiro Shimoyama |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NTT生活環境研究所 NTT Lifestyle and Environmental Technology Laboratories |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 伴 弘司 / Hiroshi Ban |
| 第 2 著者 所属（和/英） | NTT生活環境研究所 NTT Lifestyle and Environmental Technology Laboratories |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 竹田 忠雄 / Tadao Takeda |
| 第 3 著者 所属（和/英） | NTT生活環境研究所 NTT Lifestyle and Environmental Technology Laboratories |
| 発表年月日 | 2000/2/18 |
| 資料番号 | R99-37, EMD99-87 |
| 巻番号（vol） | vol.99 |
| 号番号（no） | 644 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |