| 講演名 | 1999/10/29 高温超伝導YBa_2Cu_3O_<7-δ>薄膜粒界接合における磁束量子運動 平野 悟, 小山 洋, 松田 瑞史, 師岡 利光, 中山 哲, 栗城 真也, |
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| 抄録(和) | 高温超伝導薄膜デバイスの磁束量子ダイナミクスを解析するために、直接磁束検出法を用いてYBa_2Cu_3O_<7-δ>(YBCO)薄膜粒界接合(傾角30°、膜厚200nm、幅84μm)の磁束ノイズ特性を測定した。磁束ノイズ特性はサンプルの冷却過程に依存したが、81K付近ではいくつかの電流領域で時間幅の長いランダム・テレグラフ・ノイズ(RTN)を観測した。時間幅の長いRTNはゼロ磁場冷却(ZFC)と磁場中冷却(FC)とで異なるI-Φ_ |
| 抄録(英) | In order to study the vortex dynamics in high-Tc superconducting thin film devices, we investigated the flux noise by the direct flux detection method of YBa_2Cu_3O_<7-δ> (YBCO) grain boundary junctions (misorientation angle 30°, thickness 200 nm, width 84 μm). The flux noise characteristic was sensitive to the history of the cooling process of the sample. At about 81 K, random telegraph noise (RTN) of long time width was observed in several current regions. Zero field cooled and field cooled sample gave different I-Φ_ |
| キーワード(和) | 直接磁束検出法 / YBa_2Cu_3O_<7-δ>(YBCO)粒界接合 / ゼロ磁場冷却(ZFC) / 磁場中冷却(FC) / ランダム・テレグラフ・ノイズ / 周辺弱結合 |
| キーワード(英) | Direct flux detection method / YBa_2Cu_3O_<7-δ>(YBCO) grain boundary junction / zero field cool / field cool / random telegraph noise / surrounding weak links |
| 資料番号 | SCE99-21 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
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| 開催期間 | 1999/10/29(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Superconductive Electronics (SCE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 高温超伝導YBa_2Cu_3O_<7-δ>薄膜粒界接合における磁束量子運動 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Vortex Dynamics of YBa_2Cu_3O_<7-δ> Thin Film Grain Boundary Junctions |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 直接磁束検出法 / Direct flux detection method |
| キーワード(2)（和/英） | YBa_2Cu_3O_<7-δ>(YBCO)粒界接合 / YBa_2Cu_3O_<7-δ>(YBCO) grain boundary junction |
| キーワード(3)（和/英） | ゼロ磁場冷却(ZFC) / zero field cool |
| キーワード(4)（和/英） | 磁場中冷却(FC) / field cool |
| キーワード(5)（和/英） | ランダム・テレグラフ・ノイズ / random telegraph noise |
| キーワード(6)（和/英） | 周辺弱結合 / surrounding weak links |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 平野 悟 / S. Hirano |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 北海道大学電子科学研究所 Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 小山 洋 / H. Oyama |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 北海道大学電子科学研究所 Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 松田 瑞史 / M. Matsuda |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 室蘭工業大学電気電子工学科 Muroran Institute of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 師岡 利光 / T. Morooka |
| 第 4 著者 所属（和/英） | セイコー・インスツルメンツ株式会社 Seiko Instruments Inc. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 中山 哲 / S. Nakayama |
| 第 5 著者 所属（和/英） | セイコー・インスツルメンツ株式会社 Seiko Instruments Inc. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 栗城 真也 / S. Kuriki |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 北海道大学電子科学研究所 Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University |
| 発表年月日 | 1999/10/29 |
| 資料番号 | SCE99-21 |
| 巻番号（vol） | vol.99 |
| 号番号（no） | 408 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |