| 講演名 | 2000/3/17 Prドープフッ化物ファイバモジュールの信頼性 鹿野 弘二, 西田 好毅, 金森 照寿, 星野 耕一, 清水 誠, 中川 幸一, 大石 泰丈, |
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| 抄録(和) | Prドープフッ化物ファイバモジュールに対し、Bellcore Technical Advisory TA-NWT-001221にしたがった6種類の信頼性試験を行った。その結果、5000hrの高温高湿放置試験、低温装置試験ならびに温度サイクル試験、熱衝撃試験、振動試験のいずれにおいても故障がなく、実用環境下で長時間にわたる安定性を有することを明らかにした。 |
| 抄録(英) | Reliability test results are reported for a fluoride fiber module. A sealed fluoride fiber module was developed for practical optical fiber amplifier use and the reliability was studied with respect to the Bellcore Technical Advisory TA-NWT-011221. As a results, trouble-free damp heat storage and low-temperature storage for 5000hr and trouble-free temperature cycling and temperature-humidity cycling tests revealed that our fluoride fiber module has log-term stability under practical environmental condition. |
| キーワード(和) | 信頼性 / Prドープフッ化物ファイバ / ファイバモジュール / 損失モニタリング |
| キーワード(英) | reliability / praseodymium-doped fluoride fiber / fiber module / loss monitoring |
| 資料番号 | R99-46,CPM99-169 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 2000/3/17(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | Prドープフッ化物ファイバモジュールの信頼性 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Reliability of praseodymium-doped fluoride fiber module |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 信頼性 / reliability |
| キーワード(2)（和/英） | Prドープフッ化物ファイバ / praseodymium-doped fluoride fiber |
| キーワード(3)（和/英） | ファイバモジュール / fiber module |
| キーワード(4)（和/英） | 損失モニタリング / loss monitoring |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 鹿野 弘二 / Koji SHIKANO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NTTフォトニクス研究所 NTT Photonics Laboratories |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 西田 好毅 / Yoshiki NISHIDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | NTTエレクトロニクス(株) NTT Electronics Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 金森 照寿 / Terutoshi KANAMORI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | NTTフォトニクス研究所 NTT Photonics Laboratories |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 星野 耕一 / Kohichi HOSHINO |
| 第 4 著者 所属（和/英） | NTTフォトニクス研究所 NTT Photonics Laboratories |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 清水 誠 / Makoto SHIMIZU |
| 第 5 著者 所属（和/英） | NTTフォトニクス研究所 NTT Photonics Laboratories |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 中川 幸一 / Kohichi NAKAGAWA |
| 第 6 著者 所属（和/英） | NTTエレクトロニクス(株) NTT Electronics Corporation |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 大石 泰丈 / Yasutake OHISHI |
| 第 7 著者 所属（和/英） | NTTエレクトロニクス(株) NTT Electronics Corporation |
| 発表年月日 | 2000/3/17 |
| 資料番号 | R99-46,CPM99-169 |
| 巻番号（vol） | vol.99 |
| 号番号（no） | 712 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
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