講演名 2005/9/19
遺伝的アルゴリズムを用いたSPICEモデルパラメータの抽出(<特集>プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
馬場 俊祐, 行方 潤也, 村瀬 大輔, 和田 哲典, 伊藤 桂一, 村川 正宏,
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抄録(和) 従来、勾配系の最適化手法をMOSFETのSPICEモデルパラメータを抽出は複雑な手順を必要としていた。一方、遺伝的アルゴリズムは先見的な知識が必要ないという特徴を持つ。そこでBsimモデルパラメータの抽出に適用した結果、人手をかけずに高精度なパラメータを抽出できた。
抄録(英) Extracting an optimal set of compact model parameter values for an MOSFET using conventional LM method is a complex problem. Genetic algorithms are well-suited for finding optimal solutions in irregular parameter spaces without human expertise. We have applied a genetic algorithm to the Bsim model parameter extraction and are able to produce models of superior accuracy.
キーワード(和) 遺伝的アルゴリズム / spiceモデルパラメータ
キーワード(英) Genetic algorithms / Compact model parameter / Bsim3 / MOSFET
資料番号 VLD2005-41,SDM2005-160
発行日

研究会情報
研究会 VLD
開催期間 2005/9/19(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 VLSI Design Technologies (VLD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 遺伝的アルゴリズムを用いたSPICEモデルパラメータの抽出(<特集>プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Extraction of Bsim Compact Model Parameters Using a Genetic Algorithm
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 遺伝的アルゴリズム / Genetic algorithms
キーワード(2)(和/英) spiceモデルパラメータ / Compact model parameter
第 1 著者 氏名(和/英) 馬場 俊祐 / Shunsuke BABA
第 1 著者 所属(和/英) (株)半導体先端テクノロジーズ
Semiconductor Leading Edge Technologies, Inc.
第 2 著者 氏名(和/英) 行方 潤也 / Junya NAMEKATA
第 2 著者 所属(和/英) (株)半導体先端テクノロジーズ
Semiconductor Leading Edge Technologies, Inc.
第 3 著者 氏名(和/英) 村瀬 大輔 / Daisuke MURASE
第 3 著者 所属(和/英) (株)半導体先端テクノロジーズ
Semiconductor Leading Edge Technologies, Inc.
第 4 著者 氏名(和/英) 和田 哲典 / Tetunori WADA
第 4 著者 所属(和/英) (株)半導体先端テクノロジーズ
Semiconductor Leading Edge Technologies, Inc.
第 5 著者 氏名(和/英) 伊藤 桂一 / Keiichi ITO
第 5 著者 所属(和/英) (株)進化システム総合研究所
Evolvable Systems Research Institute, Inc.
第 6 著者 氏名(和/英) 村川 正宏 / Masahiro MURAKAWA
第 6 著者 所属(和/英) (株)進化システム総合研究所
Evolvable Systems Research Institute, Inc.
発表年月日 2005/9/19
資料番号 VLD2005-41,SDM2005-160
巻番号(vol) vol.105
号番号(no) 307
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日