| 講演名 | 2005-09-09 配線長さによるパルス形状劣化の実測と原因推定(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術) 藪内 広一, 宇佐美 保, 秋山 豊, 大塚 寛治, |
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| 抄録(和) | 本研究では同軸ケーブル1m、10m、100mに1kHz、100kHz、10MHz、100MHz、500MHzの単パルスを入力し、そのパルス波形の劣化形状から、仮説を立てた。その仮説から計算シミュレーションを行った結果、劣化の原因はパルスエネルギの時間分散であると推定した。 |
| 抄録(英) | In this research, the single pulse (1kHz, 100kHz, 10MHz, 100MHz, and 500MHz) was inputted into coaxial cables 1m, 10m, and 100m, and the hypothesis was formed from the degradation of the pulse waveform. As a result of performing a calculation simulation from the hypothesis, it was presumed that the cause of degradation was time distribution of pulse energy. |
| キーワード(和) | 伝送線路配線 / パルス信号劣化 / 信号減衰 |
| キーワード(英) | Transmission wiring / Degradation of pulse signal / signal attenuation |
| 資料番号 | CPM2005-98,ICD2005-108 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 2005/9/2(から1日開催) |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 配線長さによるパルス形状劣化の実測と原因推定(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Measuemnt and Discussion of Degradation of Pulse Feature according with Line Length Increase |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 伝送線路配線 / Transmission wiring |
| キーワード(2)（和/英） | パルス信号劣化 / Degradation of pulse signal |
| キーワード(3)（和/英） | 信号減衰 / signal attenuation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 藪内 広一 / Koichi Yabuuchi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | EMテクノロジ EM Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 宇佐美 保 / Tamotsu Usami |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 明星大学情報学部電子情報学科 Meisei University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 秋山 豊 / Yutaka Akiyama |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 明星大学情報学部電子情報学科 Meisei University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 大塚 寛治 / Kanji Otsuka |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 明星大学情報学部電子情報学科 Meisei University |
| 発表年月日 | 2005-09-09 |
| 資料番号 | CPM2005-98,ICD2005-108 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 266 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
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