講演名 2005-09-08
組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
樋上 喜信, / 高橋 寛, 小林 真也, 高松 雄三,
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抄録(和) 近年, 論理回路のテストや故障診断におけるコスト削減が重要になってきている.テストや故障診断のコストは, 印加されるテストベクトル数に依存するため, テストベクトルを削減することが重要である.本稿では, 組合せ回路および順序回路に対して, 故障診断のためのテストベクトル数を削減するテスト圧縮法を提案する.ここでは, 与えられたテスト集合またはテスト系列に対して, 区別される故障ペア数を減少させることなく, テストベクトル数を削減する.故障ペア数は故障数の2乗に比例するため, 大規模回路においてそれは膨大な数となる.そこで提案法では発見的手法を用いて, 一度に取り扱う故障ペア数を減少させることによって, 大規模回路においてもテストベクトル削減を可能にする.提案法の有効性は, ISCASベンチマーク回路に対する実験の結果によって示される.
抄録(英) Recently, it is getting important to reduce the cost of test and fault diagnosis. Since the cost of test and fault diagnosis depends on the number of test vectors, test vectors must be compacted. This paper presents a method for compacting diagnostic test sets or test sequences for combinational and sequential circuits. The proposed methods reduce the number of test vectors while maintaining the original diagnostic capability. In order to compact diagnostic test vectors, we must take care of a large number of fault pairs, which is the square number of faults. The proposed methods introduce heuristics to reduce the number of fault pairs that are handled at one time. The effectiveness of the proposed methods are shown by experimental results for ISCAS benchmark circuits.
キーワード(和) 故障診断 / テスト圧縮 / 組合せ回路 / 順序回路
キーワード(英) fault diagnosis / test compaction / combinational circuit / sequential circuit
資料番号 CPM2005-89,ICD2005-99
発行日

研究会情報
研究会 CPM
開催期間 2005/9/1(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Component Parts and Materials (CPM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Diagnostic Test Compaction for Combinational and Sequential Circuits
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 故障診断 / fault diagnosis
キーワード(2)(和/英) テスト圧縮 / test compaction
キーワード(3)(和/英) 組合せ回路 / combinational circuit
キーワード(4)(和/英) 順序回路 / sequential circuit
第 1 著者 氏名(和/英) 樋上 喜信 / Yoshinobu HIGAMI
第 1 著者 所属(和/英) 愛媛大学工学部情報工学科
Department of Computer Science, Ehime University
第 2 著者 氏名(和/英) / 高橋 寛 / KEWAL K. SALUJA
第 2 著者 所属(和/英) / 愛媛大学工学部情報工学科
Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison
第 3 著者 氏名(和/英) 小林 真也 / Hiroshi TAKAHASHI
第 3 著者 所属(和/英) 愛媛大学工学部情報工学科
Department of Computer Science, Ehime University
第 4 著者 氏名(和/英) 高松 雄三 / Shinya KOBAYASHI
第 4 著者 所属(和/英) 愛媛大学工学部情報工学科
Department of Computer Science, Ehime University
発表年月日 2005-09-08
資料番号 CPM2005-89,ICD2005-99
巻番号(vol) vol.105
号番号(no) 265
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日