講演名 2005/7/25
1原子挿入層によるヘテロ界面と結晶性の制御(電子部品・材料, 及び一般)
竹田 美和, 森 敬洋, 安達 俊彰, 田渕 雅夫, 人見 伸也, 山内 武志, 中村 新男,
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抄録(和) 半導体上のErAs半金属層の平坦さと厚さの制御を達成するために、分子線エピタキシー法でGaAs/AlAs/ErAs/AlAs/GaAs構造を作製し、そこにおける界面制御層の重要性について論じる。ErAs上のAlAs層はMn 1層を挟む事で、平坦となる事が知られている。しかし、AlAs上のErAs層については、手だてがなかった。我々は、僅か1分子層のGaAs(III族元素だけを見ると1原子層のGa)を挟むことで、平坦なErAs層が得られる事を見出した。また、RHEEDのストリーク・パターン中の回折スポットがErAs層の膜厚増加とともに観測されるが、熱処理によりそれが完全に除去出来ることも述べる。
抄録(英) To achieve a good control of thickness and flatness of ErAs semimetal layers on semiconductor substrates, we investigated GaAs/AlAs/ErAs/AlAs/GaAs RTD structure growth by molecular beam epitaxy(MBE). A good flatness of the ErAs layers on AlAs had not been achieved while the flatness of the upper AlAs layer on ErAs was recovered by insertion of a Mn metal layer between the upper AlAs layer and the ErAs layer. In this work, we adopted one monolayer(ML)-thick GaAs on the lower AlAs layer to suppress the three-dimensional growth of ErAs. The ErAs surface grown on GaAs(1ML)/AlAs was as smooth as that on GaAs.
キーワード(和) 表面平坦性 / 1原子挿入層 / 共鳴トンネルダイオード
キーワード(英) ErAs / MBE / Flatness / 1ML insertion layer / RTD
資料番号 CPM2005-62
発行日

研究会情報
研究会 CPM
開催期間 2005/7/25(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Component Parts and Materials (CPM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 1原子挿入層によるヘテロ界面と結晶性の制御(電子部品・材料, 及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Control of Hetero-Interface and Crystal Quality by Insertion of 1 Monolayer
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 表面平坦性 / ErAs
キーワード(2)(和/英) 1原子挿入層 / MBE
キーワード(3)(和/英) 共鳴トンネルダイオード / Flatness
第 1 著者 氏名(和/英) 竹田 美和 / Yoshikazu TAKEDA
第 1 著者 所属(和/英) 名古屋大学工学研究科結晶材料工学専攻:名古屋大学エコトピア科学研究所ベンチャービジネスラボラトリー
Department of Crystalline Materials Science, Graduate School of Engineering, Nagoya University:Venture Business Laboratory, Eco Topia Research Institute, Nagoya University
第 2 著者 氏名(和/英) 森 敬洋 / Takahiro MORI
第 2 著者 所属(和/英) 名古屋大学工学研究科結晶材料工学専攻
Department of Crystalline Materials Science, Graduate School of Engineering, Nagoya University
第 3 著者 氏名(和/英) 安達 俊彰 / Toshiaki ADACHI
第 3 著者 所属(和/英) 名古屋大学工学研究科結晶材料工学専攻
Department of Crystalline Materials Science, Graduate School of Engineering, Nagoya University
第 4 著者 氏名(和/英) 田渕 雅夫 / Masao TABUCHI
第 4 著者 所属(和/英) 名古屋大学エコトピア科学研究所ベンチャービジネスラボラトリー
Venture Business Laboratory, EcoTopia Research Institute, Nagoya University
第 5 著者 氏名(和/英) 人見 伸也 / Shinya HITOMI
第 5 著者 所属(和/英) 名古屋大学工学研究科応用物理学専攻
Department of Applied Physics, Graduate School of Engineering, Nagoya University
第 6 著者 氏名(和/英) 山内 武志 / Takeshi YAMAUCHI
第 6 著者 所属(和/英) 名古屋大学工学研究科応用物理学専攻
Department of Applied Physics, Graduate School of Engineering, Nagoya University
第 7 著者 氏名(和/英) 中村 新男 / Arao NAKAMURA
第 7 著者 所属(和/英) 名古屋大学工学研究科応用物理学専攻
Department of Applied Physics, Graduate School of Engineering, Nagoya University
発表年月日 2005/7/25
資料番号 CPM2005-62
巻番号(vol) vol.105
号番号(no) 223
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日