講演名 2005/7/29
LUTとマイクロプログラムによる耐固定故障プロセッサ(高信頼プロセッサ, SWOPP武雄2005(2005年並列/分散/協調処理に関する「武雄」サマー・ワークショップ))
中村 洋介, 平木 敬,
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抄録(和) 非常に高いディペンダビリティを達成するために我々はチップ交換による修復が困難である状況下におけるプロセッサ固定故障の修復手法について研究を行っている。この問題を解決する手法として回路多重化手法や機能的な回路の代用手法が提案されたが我々は代用を用いた再構成手法(再構成手法)を提案している。この手法は再構成機能とマイクロプログラムを利用して故障が発生時に急激ではない、徐々に性能低下するプロセッサを実現する手法である。本稿では再構成手法において特に故障検出やサービス復帰の流れについて議論する。本手法における故障検出方法として動的な検出用回路組み込みを行い、固定故障判定を行う。再構成手法の故障検出システムの予備評価として我々はFPGA上にバイナリカウンタを作成し、それに対する故障検出回路を作成した。FPGAの配置制限の中、故障検出のために要求されるコンフィギュレーション回数が四回であることが得られた。
抄録(英) We study how to repair permanent faults in processors when it is difficult to exchange for spare ones. To resolve this problem, duplication method and substitution method is prepared, while we propose reconstruction method. In this paper, we discuss about fault detection system and restoring flow in reconstruction system. We made fault-detection logic circuit for binary counter. This fault detection system require 4 times re-configuration for binary counter. The numuber is so small. This method is realized to be useful for small circuit.
キーワード(和) 高信頼性 / 固定故障
キーワード(英) Dependability / Fault-Tolerant / Permanent Fault
資料番号 DC2005-17
発行日

研究会情報
研究会 DC
開催期間 2005/7/29(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Dependable Computing (DC)
本文の言語 JPN
タイトル(和) LUTとマイクロプログラムによる耐固定故障プロセッサ(高信頼プロセッサ, SWOPP武雄2005(2005年並列/分散/協調処理に関する「武雄」サマー・ワークショップ))
サブタイトル(和)
タイトル(英) Fault-tolerant Processor System by LUT and Microprogram
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 高信頼性 / Dependability
キーワード(2)(和/英) 固定故障 / Fault-Tolerant
第 1 著者 氏名(和/英) 中村 洋介 / Yousuke NAKAMURA
第 1 著者 所属(和/英) 東京大学大学院情報理工学系研究科
The University of Tokyo, Graduate School of Information Science and Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 平木 敬 / Kei HIRAKI
第 2 著者 所属(和/英) 東京大学大学院情報理工学系研究科
The University of Tokyo, Graduate School of Information Science and Technology
発表年月日 2005/7/29
資料番号 DC2005-17
巻番号(vol) vol.105
号番号(no) 227
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日