| 講演名 | 1994/10/28 Effects of the Interface Status and Fixed Charges on the Electrical Characteristics of Thin Film Transistors with Thin Amorphous Silicon Films , |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EID |
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| 開催期間 | 1994/10/28(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electronic Information Displays (EID) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | Effects of the Interface Status and Fixed Charges on the Electrical Characteristics of Thin Film Transistors with Thin Amorphous Silicon Films |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Effects of the Interface Status and Fixed Charges on the Electrical Characteristics of Thin Film Transistors with Thin Amorphous Silicon Films |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | |
| 第 1 著者 所属（和/英） | |
| 発表年月日 | 1994/10/28 |
| 資料番号 | |
| 巻番号（vol） | vol.94 |
| 号番号（no） | 308 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |