| 講演名 | 2005-06-28 位相限定相関法に基づく電子顕微鏡画像の倍率推定アルゴリズム(画像処理(3), 信号処理, LSI, 及び一般) 長嶋 聖, 青木 孝文, 常田 るり子, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 本稿では, 位相限定相関法に基づく電子顕微鏡画像の倍率推定アルゴリズムを提案する.提案手法は, 基準画像に対する入力画像の倍率および平行移動量を高精度に推定することが可能である.また, 基準画像と入力画像の間の共通領域のみを抽出することによって, 倍率推定精度を向上させている.マンデルブロー図形を倍率の保証された画像として用いた実験から, 画像サイズ401×401ピクセルで約1000倍に拡大された画像の倍率を16段階(各段階の倍率は約1.54倍)で推定した場合, 提案手法は0.2[%]程度の誤差で推定可能であることを示す.また, 提案する倍率推定アルゴリズムを電子顕微鏡画像の倍率校正に適用した結果について示す. |
| 抄録(英) | This paper presents a scale estimation algorithm based on Phase-Only Correlation (POC) for electron microscope images. The proposed method can estimate the scale factor and translational displacements between a reference image and an input image with high-accuracy. Significant improvement in scale estimation performance can be achieved by extracting a common region between the reference image and input image. Experimental evaluation using the Mandelbrot picture as a precisely scale-controlled image shows that the proposed method can estimate the scale factor in approximately 0.2[%]-scale accuracy, where the image size is 401×401[pixel], the scale factor is about 1000 and the scale is estimated with 16 stages (thus, the scale factor of each stage is about 1.54). This paper also describes an application of the proposed algorithm to magnification calibration for electron microscope images. |
| キーワード(和) | 位相限定相関法 / 倍率推定 / マンデルブロー図形 / 電子顕微鏡 |
| キーワード(英) | phase-only correlation / scale estimation / mandelbrot picture / electron microscope |
| 資料番号 | CAS2005-18,VLD2005-29,SIP2005-42 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SIP |
|---|---|
| 開催期間 | 2005/6/21(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Signal Processing (SIP) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 位相限定相関法に基づく電子顕微鏡画像の倍率推定アルゴリズム(画像処理(3), 信号処理, LSI, 及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Scale Estimation Algorithm Based on Phase-Only Correlation for Electron Microscope Images |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 位相限定相関法 / phase-only correlation |
| キーワード(2)（和/英） | 倍率推定 / scale estimation |
| キーワード(3)（和/英） | マンデルブロー図形 / mandelbrot picture |
| キーワード(4)（和/英） | 電子顕微鏡 / electron microscope |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 長嶋 聖 / Sei NAGASHIMA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東北大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences Tohoku University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 青木 孝文 / Takafumi AOKI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東北大学大学院情報科学研究科 Graduate School of Information Sciences Tohoku University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 常田 るり子 / Ruriko TSUNETA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 株式会社日立製作所中央研究所 Hitachi, Ltd., Central Research Laboratry |
| 発表年月日 | 2005-06-28 |
| 資料番号 | CAS2005-18,VLD2005-29,SIP2005-42 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 150 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |