講演名 2004/10/14
ダイヤモンドMESFETのマイクロ波帯増幅特性(化合物混晶半導体デバイス・材料(含むSiGe,ワイドギャップ半導体),一般)
嘉数 誠, 山内 喜晴, /, 牧本 俊樹,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) 高品質ダイヤモンドCVD薄膜を用いて,p型ダイヤモンドMESFET(ゲート長0.2μm)を作製した。高周波特性(f_T=25GHz,f_=63GHz,f_=81GHz)から初めてミリ波帯での電力増幅を示した。またRF電力特性(1GHz,A級動作)による最大出力電力は0.35mW/mm,線形電力利得は14dBを示した。また初めてRF雑音特性を測定し,最小雑音指数は3GHzで0.72dBを示した。さらにドリフト速度のオーバーシュート現象による高速化の可能性をモンテカルロシミュレーションから考察した.
抄録(英) Diamond p-type FET with a gate length of 0.2 μm was fabricated using high-quality CVD thin layer. Its RF cut-off frequency (f_T= 25 GHz, f_= 63 GHz, and f_= 81 GHz) showed the first RF power operation in the millimeter-wave range. The RF power measurements in diamond exhibited P_ of 0.35 mW/mm and the linear power gain of 14 dB at 1 GHz in the A-class operation. The first RF noise measurement showed the minimum noise figure (F_) of 0.72 dB at 3 GHz. In addition, possibility of drift-velocity overshoot is investigated by Monte-Carlo simulations.
キーワード(和) ダイヤモンド / FET / 遮断周波数 / マイクロ波 / 高周波出力電力 / 高周波雑音指数
キーワード(英) Diamond / FET / Cut-off frequency / Microwave / RF output power level / RF noise figure
資料番号 ED2004-134,CPM2004-108,LQE2004-72
発行日

研究会情報
研究会 LQE
開催期間 2004/10/14(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Lasers and Quantum Electronics (LQE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) ダイヤモンドMESFETのマイクロ波帯増幅特性(化合物混晶半導体デバイス・材料(含むSiGe,ワイドギャップ半導体),一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Microwave Performance of Diamond MESFET
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) ダイヤモンド / Diamond
キーワード(2)(和/英) FET / FET
キーワード(3)(和/英) 遮断周波数 / Cut-off frequency
キーワード(4)(和/英) マイクロ波 / Microwave
キーワード(5)(和/英) 高周波出力電力 / RF output power level
キーワード(6)(和/英) 高周波雑音指数 / RF noise figure
第 1 著者 氏名(和/英) 嘉数 誠 / Makoto KASU
第 1 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社,NTT物性科学基礎研究所
NTT Basic Research Laboratories, NTT Corporation
第 2 著者 氏名(和/英) 山内 喜晴 / Yoshiharu YAMAUCHI
第 2 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社,NTT物性科学基礎研究所
NTT Basic Research Laboratories, NTT Corporation
第 3 著者 氏名(和/英) / / Michal KUBOVIC
第 3 著者 所属(和/英) /
Department of Electronic Devices and Circuits, University of Ulm
第 4 著者 氏名(和/英) 牧本 俊樹 / Erhard KOHN
第 4 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社,NTT物性科学基礎研究所
Department of Electronic Devices and Circuits, University of Ulm
発表年月日 2004/10/14
資料番号 ED2004-134,CPM2004-108,LQE2004-72
巻番号(vol) vol.104
号番号(no) 361
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日