講演名 | 2004/10/14 ダイヤモンドMESFETのマイクロ波帯増幅特性(化合物混晶半導体デバイス・材料(含むSiGe,ワイドギャップ半導体),一般) 嘉数 誠, 山内 喜晴, /, 牧本 俊樹, |
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抄録(和) | 高品質ダイヤモンドCVD薄膜を用いて,p型ダイヤモンドMESFET(ゲート長0.2μm)を作製した。高周波特性(f_T=25GHz,f_ |
抄録(英) | Diamond p-type FET with a gate length of 0.2 μm was fabricated using high-quality CVD thin layer. Its RF cut-off frequency (f_T= 25 GHz, f_ |
キーワード(和) | ダイヤモンド / FET / 遮断周波数 / マイクロ波 / 高周波出力電力 / 高周波雑音指数 |
キーワード(英) | Diamond / FET / Cut-off frequency / Microwave / RF output power level / RF noise figure |
資料番号 | ED2004-134,CPM2004-108,LQE2004-72 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | LQE |
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開催期間 | 2004/10/14(から1日開催) |
開催地(和) | |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Lasers and Quantum Electronics (LQE) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | ダイヤモンドMESFETのマイクロ波帯増幅特性(化合物混晶半導体デバイス・材料(含むSiGe,ワイドギャップ半導体),一般) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Microwave Performance of Diamond MESFET |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | ダイヤモンド / Diamond |
キーワード(2)(和/英) | FET / FET |
キーワード(3)(和/英) | 遮断周波数 / Cut-off frequency |
キーワード(4)(和/英) | マイクロ波 / Microwave |
キーワード(5)(和/英) | 高周波出力電力 / RF output power level |
キーワード(6)(和/英) | 高周波雑音指数 / RF noise figure |
第 1 著者 氏名(和/英) | 嘉数 誠 / Makoto KASU |
第 1 著者 所属(和/英) | 日本電信電話株式会社,NTT物性科学基礎研究所 NTT Basic Research Laboratories, NTT Corporation |
第 2 著者 氏名(和/英) | 山内 喜晴 / Yoshiharu YAMAUCHI |
第 2 著者 所属(和/英) | 日本電信電話株式会社,NTT物性科学基礎研究所 NTT Basic Research Laboratories, NTT Corporation |
第 3 著者 氏名(和/英) | / / Michal KUBOVIC |
第 3 著者 所属(和/英) | / Department of Electronic Devices and Circuits, University of Ulm |
第 4 著者 氏名(和/英) | 牧本 俊樹 / Erhard KOHN |
第 4 著者 所属(和/英) | 日本電信電話株式会社,NTT物性科学基礎研究所 Department of Electronic Devices and Circuits, University of Ulm |
発表年月日 | 2004/10/14 |
資料番号 | ED2004-134,CPM2004-108,LQE2004-72 |
巻番号(vol) | vol.104 |
号番号(no) | 361 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |