講演名 2002/2/8
AgCdO12twq%電気接点対の突起成長と電気的特性
中山 崇嗣, 渡邊 隆志, 関川 純哉, 窪野 隆能,
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抄録(和) AgCdO12wt%電気接点対を継電器に搭載し、直流42V-5Ω抵路内で閉成責務動作と、開離責務動作を個別に行い、動作毎アーク継続時間を測定し、1000回毎に転移突起を写真撮影した。閉成責務動作電気接点の陰極側に転移突起が成長した。転移突起が成長して、高さHが「H/Gap>0.5」になると開離不良が発生するようになった。また、突起の太さが大きい試料ほど、開離不良が発生するまでの動作回数が多くなる事がわかった。
抄録(英) AgCdO12wt% contacts mounted on electrical relays were tested in a dc 42V-5Ω resistive circuit as make-only-contacts and break-only-contacts. In this experience, arc duration has been measured and shape of transferred pip on the contact have been taken photograph records in each 1000 operations. The transferred pip has been grown on the cathode. When transferred pip's height H was "H/GAP>0.5", sticking happened easily. We knew that the more the base of pip is wide, the more the number of operations increases before the sticking happens.
キーワード(和) 電気接点 / 転移突起 / スチッキング
キーワード(英) electric contacts / transferred pip / sticking
資料番号 R2001-38 EMD2001-95
発行日

研究会情報
研究会 EMD
開催期間 2002/2/8(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electromechanical Devices (EMD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) AgCdO12twq%電気接点対の突起成長と電気的特性
サブタイトル(和)
タイトル(英) Growth of Transferred Pip and Electrical Characteristics on Electric Contacts Made of AgCdO12wt%
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electric contacts
キーワード(2)(和/英) 転移突起 / transferred pip
キーワード(3)(和/英) スチッキング / sticking
第 1 著者 氏名(和/英) 中山 崇嗣 / Takatsugu NAKAYAMA
第 1 著者 所属(和/英) 静岡大学大学院理工学研究科
Graduate school of Science and Engineering, Shizuoka University
第 2 著者 氏名(和/英) 渡邊 隆志 / Takashi WATANABE
第 2 著者 所属(和/英) 静岡大学大学院理工学研究科
Graduate school of Science and Engineering, Shizuoka University
第 3 著者 氏名(和/英) 関川 純哉 / Junya SEKIKAWA
第 3 著者 所属(和/英) 静岡大学工学部
Faculty of Engineering, Shizuoka University
第 4 著者 氏名(和/英) 窪野 隆能 / Takayoshi KUBONO
第 4 著者 所属(和/英) 静岡大学工学部
Faculty of Engineering, Shizuoka University
発表年月日 2002/2/8
資料番号 R2001-38 EMD2001-95
巻番号(vol) vol.101
号番号(no) 642
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日