講演名 2005/5/19
実時間学習のためのハードウェアニューラルネットワーク : 実時間官能外観検査用ハードウェアニューロシステム
千 承佑, 早川 吉弘, 中島 康治, 萩原 幸輝,
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抄録(和) 製産現場では、完成品の外観検査は人間の経験や勘に依存している。しかし、長時間作業と生産コストの削減が困難である為、自動検査システムが望まれている。自動化には判定処理基準の自動獲得及び高速判定が必要である。本研究ではこの判定処理のニューラルネットワークによる実現を目指す。特に判断基準の自動獲得には学習機能を考え、高速判定は専用のハードウェア化による実現を目指した。ネットワークの演算は並列処理と6段のPipeline処理を採用して高速化し、学習で使う活性化関数の微分値は常に定数を採用して回路のリソースを減らした。このシステムを設計して測定した結果、判定目標時間0.1秒に対して0.023秒の動作を実現した。
抄録(英) At factories, the external check of final products relies on the human check, which is based on experience and instinct. Such method is difficult to do long time and to reduce production cost. Therefore we expect an automatic external check system. We use the hardware neural network at the judgment enabling high-speed judgment and the automatic acquisition of the judgment criteria. In order to speed up operations, we have implemented parallel and pipeline processing into hardware. We design the circuit so that the derivative of the activation function is always a constant. The object time is within 0.1 second per one product. Measurements showing that the hardware neural network system can complete the process within 23ms are also presented.
キーワード(和) バックプロパゲーション / 官能検査 / ハードウェア
キーワード(英) Back-propagation / Sensory external check / PCI-BUS / Hardware
資料番号 NC2005-6
発行日

研究会情報
研究会 NC
開催期間 2005/5/19(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Neurocomputing (NC)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 実時間学習のためのハードウェアニューラルネットワーク : 実時間官能外観検査用ハードウェアニューロシステム
サブタイトル(和)
タイトル(英) Hardware Neural Network for Real Time Learning : Hardware Neuro-system for Real Time Sensory External Check
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) バックプロパゲーション / Back-propagation
キーワード(2)(和/英) 官能検査 / Sensory external check
キーワード(3)(和/英) ハードウェア / PCI-BUS
第 1 著者 氏名(和/英) 千 承佑 / Seungwoo CHUN
第 1 著者 所属(和/英) 東北大学電気通信研究所ブレインウェア実験施設/ナノ・スピン実験施設
Laboratory for Brainware/Laboratory for Nanoelectronics and Spintronics Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University
第 2 著者 氏名(和/英) 早川 吉弘 / Yosihiro HAYAKAWA
第 2 著者 所属(和/英) 東北大学電気通信研究所ブレインウェア実験施設/ナノ・スピン実験施設
Laboratory for Brainware/Laboratory for Nanoelectronics and Spintronics Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University
第 3 著者 氏名(和/英) 中島 康治 / Koji NAKAJIMA
第 3 著者 所属(和/英) 東北大学電気通信研究所ブレインウェア実験施設/ナノ・スピン実験施設
Laboratory for Brainware/Laboratory for Nanoelectronics and Spintronics Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University
第 4 著者 氏名(和/英) 萩原 幸輝 / Kouki HAGIWARA
第 4 著者 所属(和/英) NEC東北産業システム株式会社
NEC Tohoku Manufacturing Systems. Co. Ltd.
発表年月日 2005/5/19
資料番号 NC2005-6
巻番号(vol) vol.105
号番号(no) 82
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日