| 講演名 | 2005/5/20 nc-AFMによるクーロンブロッケードに起因した単一アルカンチオール保護金微粒子上の単一電子計測(有機材料・デバイス・一般) 東 康男, 真島 豊, |
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| 抄録(和) | 非接触型原子間力顕微鏡(nc-AFM)の周波数変調法(FM法)によるカンチレバーの共振周波数シフト(△f)のサンプル電圧(V)依存性の測定により、デカンチオール保護Auナノ微粒子上の電子数の変化についての測定を行った。デカンチオール保護Auナノ微粒子上において測定した△f-V特性から、Auナノ微粒子上の電荷による静電気力に起因した周波数シフト(△f_ |
| 抄録(英) | Change in a single electron on a decanethiol protected Au nanodot on an Au substrate with self-assembled monolayer of octanethiol molecures has been studied by measuring cantilever resonant frequency shift (△f) - sample bias voltage (V) characteristic with a frequency modulation method of noncontact atomic force microscopy (nc-AFM). From an experimental △f-V characteristic measured over an Au nanodot, the response of frequency shift due to a charging-induced electrostatic force (△f_ |
| キーワード(和) | FM法 / Auナノ微粒子 / クーロンブロッケード / 単一電子計測 |
| キーワード(英) | nc-AFM / FM method / Au nanodot / Coulomb blockace / single electron counting |
| 資料番号 | OME2005-16 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME |
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| 開催期間 | 2005/5/20(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Organic Material Electronics (OME) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | nc-AFMによるクーロンブロッケードに起因した単一アルカンチオール保護金微粒子上の単一電子計測(有機材料・デバイス・一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Single Electron Counting on alkanethiol-protected single Au nanodot due to Coulomb blockade by nc-AFM |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | FM法 / nc-AFM |
| キーワード(2)（和/英） | Auナノ微粒子 / FM method |
| キーワード(3)（和/英） | クーロンブロッケード / Au nanodot |
| キーワード(4)（和/英） | 単一電子計測 / Coulomb blockace |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 東 康男 / Yasuo AZUMA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京工業大学理工学研究科 Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 真島 豊 / Yutaka MAJIMA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京工業大学理工学研究科:SORST科学技術振興機構 Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology:SORST Japan Science and Technology Agency |
| 発表年月日 | 2005/5/20 |
| 資料番号 | OME2005-16 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | 103 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
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